On the accuracy of generation lifetime measurements in high-resistivity silicon using PN gated diodes

Verzellesi, Giovanni;Dalla Betta, Gian Franco;Pignatel, Giorgio Umberto;Soncini, Giovanni
1999-01-01

1999
Verzellesi, Giovanni; Dalla Betta, Gian Franco; L., Bosisio; Pignatel, Giorgio Umberto; M., Boscardin; Soncini, Giovanni
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