IRIS

Development of nano-topography during SIMS characterization of Ge1-xSnx alloy / Secchi, Maria; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Bersani, Massimo. - (2014). (Intervento presentato al convegno IBMM 2014 tenutosi a Leuven, Belgium nel 14-19 Sept 2014).

Development of nano-topography during SIMS characterization of Ge1-xSnx alloy

Maria Secchi;Evgeny Demenev;
2014-01-01
2014
19th International Conference on Ion Beam Modification of Materials
Leuven, Belgium
Instituut of Kern- en Stralingsfysica
9789082271805
Development of nano-topography during SIMS characterization of Ge1-xSnx alloy / Secchi, Maria; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Bersani, Massimo. - (2014). (Intervento presentato al convegno IBMM 2014 tenutosi a Leuven, Belgium nel 14-19 Sept 2014).
Secchi, Maria; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Bersani, Massimo
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11572/203448
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
  • OpenAlex ND
social impact