Surface damage characterization of FBK devices for High Luminosity LHC (HL-LHC) operations / Moscatelli, F., Passeri, D., Morozzi, A., Betta, G.-F.D., Mattiazzo, S., Bomben, M., Bilei, G.M.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - ELETTRONICO. - 12:12(2017), pp. P12010-P12010. [10.1088/1748-0221/12/12/P12010]
Surface damage characterization of FBK devices for High Luminosity LHC (HL-LHC) operations
Betta, G. -F. Dalla;
2017-01-01
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