Updated results from the appearance searches for ν(υ) → ν(τ) and ν(e) → ν(τ) oscillations in the full NOMAD data sample are reported. The increased data and the use of more refined kinematic schemes for the ν(τ) CC selection allow a significant improvement of the overall sensitivity. The 'blind analysis' of both the deep-inelastic and the low multiplicity samples yields no evidence for an oscillation signal. In the two-family oscillation scenario, this sets a 90% C.L. region in the sin 2 2θ(μτ) - Δm 2 plane which includes sin 2 2θ(μτ) < 4.4 x 10 -4 at large Δm 2 and Δm 2 <0.8 eV 2 /c 4 at sin 2 2θ(μτ) = 1. The corresponding contour in the v(e) → ν(τ) oscillation hypothesis results in sin 2 2θ(eτ) < 2.2 x 10 -2 at large Δm 2 and Δm 2 <6.5 eV 2 /c 4 at sin 2 2θ(eτ) = 1. © 2000 Elsevier Science B.V

Updated results from the nu(tau ) appearance search in NOMAD / Astier, P.; Autiero, D.; Baldisseri, A.; Baldo-Ceolin, M.; Ballocchi, G.; Banner, M.; Bassompierre, G.; Benslama, K.; Besson, N.; Bird, I.; Blumenfeld, Barry J.; Bobisut, F.; Bouchez, J.; Boyd, S.; Bueno, A.; Bunyatov, S.; Camilleri, L.; Cardini, A.; Cattaneo, P. W.; Cavasinni, V.; Cervera-Villanueva, A.; Collazuol, G.; Conforto, G.; Conta, C.; Contalbrigo, M.; Cousins, R.; Daniels, D.; Degaudenzi, H.; Delprete, T.; De Santo, A.; Dignan, T.; Di Lella, L.; do Couto e Silva, E.; Dumarchez, J.; Ellis, Malcolm; Feldman, G. J.; Ferrari, R.; Ferrere, D.; Flaminio, V.; Fraternali, M.; Gaillard, J. M.; Gangler, E.; Geiser, A.; Geppert, D.; Gibin, D.; Gninenko, S.; Godley, A.; Gomez-Cadenas, J. J.; Gosset, J.; Gossling, C.; Gouanere, M.; Grant, A.; Graziani, G.; Guglielmi, A.; Hagner, C.; Hernando, J.; Hubbard, D.; Hurst, P.; Hyett, N.; Iacopini, E.; Joseph, C.; Juget, F.; Kirsanov, M.; Klimov, O.; Kokkonen, J.; Kovzelev, A.; Krasnoperov, A.; Kuznetsov, V. E.; Lacaprara, S.; Lachaud, C.; Lakic, B.; Lanza, A.; La Rotonda, L.; Laveder, M.; Letessier-Selvon, A.; Levy, J. M.; Linssen, L.; Ljubicic, A.; Long, J.; Lupi, A.; Marchionni, A.; Martelli, F.; Mechain, X.; Mendiburu, J. P.; Meyer, J. P.; Mezzetto, M.; Mishra, S. R.; Moorhead, G. F.; Nedelec, P.; Nefedov, Yu.; Nguyen-Mau, C.; Orestano, D.; Pastore, F.; Peak, L. S.; Pennacchio, E.; Pessard, H.; Petti, R.; Placci, A.; Polesello, G.; Pollmann, D.; Polyarush, A.; Popov, B.; Poulsen, C.; Rebuffi, L.; Rico, J.; Roda, C.; Rubbia, A.; Salvatore, F.; Schahmaneche, K.; Schmidt, B.; Sevior, M.; Sillou, D.; Soler, F. J. P.; Sozzi, G.; Steele, D.; Steininger, M.; Stiegler, U.; Stipcevic, M.; Stolarczyk, T.; Tareb-Reyes, M.; Taylor, G. N.; Tereshchenko, V.; Toropin, A.; Touchard, A. M.; Tovey, S. N.; Tran, M. T.; Tsesmelis, E.; Ulrichs, J.; Vacavant, L.; Valdata-Nappi, M.; Valuev, V.; Vannucci, F.; Varvell, K. E.; Veltri, M.; Vercesi, V.; Vieira, J. M.; Vinogradova, T.; Weber, F. V.; Weisse, T.; Wilson, F. F.; Winton, L. J.; Yabsley, Bruce D.; Zaccone, H.; Zuccon, P.; Zuber, K.. - In: PHYSICS LETTERS. SECTION B. - ISSN 0370-2693. - ELETTRONICO. - 483:4(2000), pp. 387-404. [10.1016/S0370-2693(00)00611-0]

Updated results from the nu(tau„) appearance search in NOMAD

P. Zuccon;
2000-01-01

Abstract

Updated results from the appearance searches for ν(υ) → ν(τ) and ν(e) → ν(τ) oscillations in the full NOMAD data sample are reported. The increased data and the use of more refined kinematic schemes for the ν(τ) CC selection allow a significant improvement of the overall sensitivity. The 'blind analysis' of both the deep-inelastic and the low multiplicity samples yields no evidence for an oscillation signal. In the two-family oscillation scenario, this sets a 90% C.L. region in the sin 2 2θ(μτ) - Δm 2 plane which includes sin 2 2θ(μτ) < 4.4 x 10 -4 at large Δm 2 and Δm 2 <0.8 eV 2 /c 4 at sin 2 2θ(μτ) = 1. The corresponding contour in the v(e) → ν(τ) oscillation hypothesis results in sin 2 2θ(eτ) < 2.2 x 10 -2 at large Δm 2 and Δm 2 <6.5 eV 2 /c 4 at sin 2 2θ(eτ) = 1. © 2000 Elsevier Science B.V
2000
4
Astier, P.; Autiero, D.; Baldisseri, A.; Baldo-Ceolin, M.; Ballocchi, G.; Banner, M.; Bassompierre, G.; Benslama, K.; Besson, N.; Bird, I.; Blumenfeld, Barry J.; Bobisut, F.; Bouchez, J.; Boyd, S.; Bueno, A.; Bunyatov, S.; Camilleri, L.; Cardini, A.; Cattaneo, P. W.; Cavasinni, V.; Cervera-Villanueva, A.; Collazuol, G.; Conforto, G.; Conta, C.; Contalbrigo, M.; Cousins, R.; Daniels, D.; Degaudenzi, H.; Delprete, T.; De Santo, A.; Dignan, T.; Di Lella, L.; do Couto e Silva, E.; Dumarchez, J.; Ellis, Malcolm; Feldman, G. J.; Ferrari, R.; Ferrere, D.; Flaminio, V.; Fraternali, M.; Gaillard, J. M.; Gangler, E.; Geiser, A.; Geppert, D.; Gibin, D.; Gninenko, S.; Godley, A.; Gomez-Cadenas, J. J.; Gosset, J.; Gossling, C.; Gouanere, M.; Grant, A.; Graziani, G.; Guglielmi, A.; Hagner, C.; Hernando, J.; Hubbard, D.; Hurst, P.; Hyett, N.; Iacopini, E.; Joseph, C.; Juget, F.; Kirsanov, M.; Klimov, O.; Kokkonen, J.; Kovzelev, A.; Krasnoperov, A.; Kuznetsov, V. E.; Lacaprara, S.; Lachaud, C.; Lakic, B.; Lanza, A.; La Rotonda, L.; Laveder, M.; Letessier-Selvon, A.; Levy, J. M.; Linssen, L.; Ljubicic, A.; Long, J.; Lupi, A.; Marchionni, A.; Martelli, F.; Mechain, X.; Mendiburu, J. P.; Meyer, J. P.; Mezzetto, M.; Mishra, S. R.; Moorhead, G. F.; Nedelec, P.; Nefedov, Yu.; Nguyen-Mau, C.; Orestano, D.; Pastore, F.; Peak, L. S.; Pennacchio, E.; Pessard, H.; Petti, R.; Placci, A.; Polesello, G.; Pollmann, D.; Polyarush, A.; Popov, B.; Poulsen, C.; Rebuffi, L.; Rico, J.; Roda, C.; Rubbia, A.; Salvatore, F.; Schahmaneche, K.; Schmidt, B.; Sevior, M.; Sillou, D.; Soler, F. J. P.; Sozzi, G.; Steele, D.; Steininger, M.; Stiegler, U.; Stipcevic, M.; Stolarczyk, T.; Tareb-Reyes, M.; Taylor, G. N.; Tereshchenko, V.; Toropin, A.; Touchard, A. M.; Tovey, S. N.; Tran, M. T.; Tsesmelis, E.; Ulrichs, J.; Vacavant, L.; Valdata-Nappi, M.; Valuev, V.; Vannucci, F.; Varvell, K. E.; Veltri, M.; Vercesi, V.; Vieira, J. M.; Vinogradova, T.; Weber, F. V.; Weisse, T.; Wilson, F. F.; Winton, L. J.; Yabsley, Bruce D.; Zaccone, H.; Zuccon, P.; Zuber, K.
Updated results from the nu(tau ) appearance search in NOMAD / Astier, P.; Autiero, D.; Baldisseri, A.; Baldo-Ceolin, M.; Ballocchi, G.; Banner, M.; Bassompierre, G.; Benslama, K.; Besson, N.; Bird, I.; Blumenfeld, Barry J.; Bobisut, F.; Bouchez, J.; Boyd, S.; Bueno, A.; Bunyatov, S.; Camilleri, L.; Cardini, A.; Cattaneo, P. W.; Cavasinni, V.; Cervera-Villanueva, A.; Collazuol, G.; Conforto, G.; Conta, C.; Contalbrigo, M.; Cousins, R.; Daniels, D.; Degaudenzi, H.; Delprete, T.; De Santo, A.; Dignan, T.; Di Lella, L.; do Couto e Silva, E.; Dumarchez, J.; Ellis, Malcolm; Feldman, G. J.; Ferrari, R.; Ferrere, D.; Flaminio, V.; Fraternali, M.; Gaillard, J. M.; Gangler, E.; Geiser, A.; Geppert, D.; Gibin, D.; Gninenko, S.; Godley, A.; Gomez-Cadenas, J. J.; Gosset, J.; Gossling, C.; Gouanere, M.; Grant, A.; Graziani, G.; Guglielmi, A.; Hagner, C.; Hernando, J.; Hubbard, D.; Hurst, P.; Hyett, N.; Iacopini, E.; Joseph, C.; Juget, F.; Kirsanov, M.; Klimov, O.; Kokkonen, J.; Kovzelev, A.; Krasnoperov, A.; Kuznetsov, V. E.; Lacaprara, S.; Lachaud, C.; Lakic, B.; Lanza, A.; La Rotonda, L.; Laveder, M.; Letessier-Selvon, A.; Levy, J. M.; Linssen, L.; Ljubicic, A.; Long, J.; Lupi, A.; Marchionni, A.; Martelli, F.; Mechain, X.; Mendiburu, J. P.; Meyer, J. P.; Mezzetto, M.; Mishra, S. R.; Moorhead, G. F.; Nedelec, P.; Nefedov, Yu.; Nguyen-Mau, C.; Orestano, D.; Pastore, F.; Peak, L. S.; Pennacchio, E.; Pessard, H.; Petti, R.; Placci, A.; Polesello, G.; Pollmann, D.; Polyarush, A.; Popov, B.; Poulsen, C.; Rebuffi, L.; Rico, J.; Roda, C.; Rubbia, A.; Salvatore, F.; Schahmaneche, K.; Schmidt, B.; Sevior, M.; Sillou, D.; Soler, F. J. P.; Sozzi, G.; Steele, D.; Steininger, M.; Stiegler, U.; Stipcevic, M.; Stolarczyk, T.; Tareb-Reyes, M.; Taylor, G. N.; Tereshchenko, V.; Toropin, A.; Touchard, A. M.; Tovey, S. N.; Tran, M. T.; Tsesmelis, E.; Ulrichs, J.; Vacavant, L.; Valdata-Nappi, M.; Valuev, V.; Vannucci, F.; Varvell, K. E.; Veltri, M.; Vercesi, V.; Vieira, J. M.; Vinogradova, T.; Weber, F. V.; Weisse, T.; Wilson, F. F.; Winton, L. J.; Yabsley, Bruce D.; Zaccone, H.; Zuccon, P.; Zuber, K.. - In: PHYSICS LETTERS. SECTION B. - ISSN 0370-2693. - ELETTRONICO. - 483:4(2000), pp. 387-404. [10.1016/S0370-2693(00)00611-0]
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