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We present a measurement of the cosmic ray (e(+) + e(-)) flux in the range 0.5 GeV to 1 TeV based on the analysis of 10.6 million (e(+) + e(-)) events collected by AMS. The statistics and the resolution of AMS provide a precision measurement of the flux. The flux is smooth and reveals new and distinct information. Above 30.2 GeV, the flux can be described by a single power law with a spectral index gamma = -3.170 +/- 0.008(stat + syst) +/- 0.008(energy scale).
Precision measurement of the (e++e-) flux in primary cosmic rays from 0.5 GeV to 1 TeV with the alpha magnetic spectrometer on the international space station / Aguilar, M.; Aisa, D.; Alpat, B.; Alvino, A.; Ambrosi, G.; Andeen, K.; Arruda, L.; Attig, N.; Azzarello, P.; Bachlechner, A.; Barao, F.; Barrau, A.; Barrin, L.; Bartoloni, A.; Basara, L.; Battarbee, M.; Battiston, R.; Bazo, J.; Becker, U.; Behlmann, M.; Beischer, B.; Berdugo, J.; Bertucci, B.; Bigongiari, G.; Bindi, V.; Bizzaglia, S.; Bizzarri, M.; Boella, G.; De Boer, W.; Bollweg, K.; Bonnivard, V.; Borgia, B.; Borsini, S.; Boschini, M. J.; Bourquin, M.; Burger, J.; Cadoux, F.; Cai, X. D.; Capell, M.; Caroff, S.; Casaus, J.; Cascioli, V.; Castellini, G.; Cernuda, I.; Cervelli, F.; Chae, M. J.; Chang, Y. H.; Chen, A. I.; Chen, H.; Cheng, G. M.; Chen, H. S.; Cheng, L.; Chikanian, A.; Chou, H. Y.; Choumilov, E.; Choutko, V.; Chung, C. H.; Clark, C.; Clavero, R.; Coignet, G.; Consolandi, C.; Contin, A.; Corti, C.; Coste, B.; Crispoltoni, M.; Cui, Z.; Dai, M.; Delgado, C.; Della Torre, S.; Demirkã¶z, M. B.; Derome, L.; Di Falco, S.; Di Masso, L.; Dimiccoli, F.; Dãaz, C.; Von Doetinchem, P.; Donnini, F.; Du, W. J.; Duranti, M.; D'Urso, D.; Eline, A.; Eppling, F. J.; Eronen, T.; Fan, Y. Y.; Farnesini, L.; Feng, J.; Fiandrini, E.; Fiasson, A.; Finch, E.; Fisher, P.; Galaktionov, Y.; Gallucci, G.; Garcãa, B.; GarcÃa-López, R.; Gargiulo, C.; Gast, H.; Gebauer, I.; Gervasi, M.; Ghelfi, A.; Gillard, W.; Giovacchini, F.; Goglov, P.; Gong, J.; Goy, C.; Grabski, V.; Grandi, D.; Graziani, M.; Guandalini, C.; Guerri, I.; Guo, K. H.; Habiby, M.; Haino, S.; Han, K. C.; He, Z. H.; Heil, M.; Hoffman, J.; Hsieh, T. H.; Huang, Z. C.; Huh, C.; Incagli, M.; Ionica, M.; Jang, W. Y.; Jinchi, H.; Kanishev, K.; Kim, G. N.; Kim, K. S.; Kirn, Th.; Kossakowski, R.; Kounina, O.; Kounine, A.; Koutsenko, V.; Krafczyk, M. S.; Kunz, S.; La Vacca, G.; Laudi, E.; Laurenti, G.; Lazzizzera, I.; Lebedev, A.; Lee, H. T.; Lee, S. C.; Leluc, C.; Li, H. L.; Li, J. Q.; Li, Q.; Li, Q.; Li, T. X.; Li, W.; Li, Y.; Li, Z. H.; Li, Z. Y.; Lim, S.; Lin, C. H.; Lipari, P.; Lippert, T.; Liu, D.; Liu, H.; Lomtadze, T.; Lu, M. J.; Lu, Y. S.; Luebelsmeyer, K.; Luo, F.; Luo, J. Z.; Lv, S. S.; Majka, R.; Malinin, A.; Maã±ã¡, C.; Marãn, J.; Martin, T.; Martãnez, G.; Masi, N.; Maurin, D.; Menchaca-Rocha, A.; Meng, Q.; Mo, D. C.; Morescalchi, L.; Mott, P.; Mã¼ller, M.; Ni, J. Q.; Nikonov, N.; Nozzoli, F.; Nunes, P.; Obermeier, A.; Oliva, A.; Orcinha, M.; Palmonari, F.; Palomares, C.; Paniccia, M.; Papi, A.; Pauluzzi, M.; Pedreschi, E.; Pensotti, S.; Pereira, R.; Pilo, F.; Piluso, A.; Pizzolotto, C.; Plyaskin, V.; Pohl, M.; Poireau, V.; Postaci, E.; Putze, A.; Quadrani, L.; Qi, X. M.; Rã¤ihã¤, T.; Rancoita, P. G.; Rapin, D.; Ricol, J. S.; Rodrãguez, I.; Rosier-Lees, S.; Rozhkov, A.; Rozza, D.; Sagdeev, R.; Sandweiss, J.; Saouter, P.; Sbarra, C.; Schael, S.; Schmidt, S. M.; Schuckardt, D.; Schulz Von Dratzig, A.; Schwering, G.; Scolieri, G.; Seo, E. S.; Shan, B. S.; Shan, Y. H.; Shi, J. Y.; Shi, X. Y.; Shi, Y. M.; Siedenburg, T.; Son, D.; Spada, F.; Spinella, F.; Sun, W.; Sun, W. H.; Tacconi, M.; Tang, C. P.; Tang, X. W.; Tang, Z. C.; Tao, L.; Tescaro, D.; Ting, Samuel C. C.; Ting, S. M.; Tomassetti, N.; Torsti, J.; Türkoʇlu, C.; Urban, T.; Vagelli, V.; Valente, E.; Vannini, C.; Valtonen, E.; Vaurynovich, S.; Vecchi, M.; Velasco, M.; Vialle, J. P.; Wang, L. Q.; Wang, Q. L.; Wang, R. S.; Wang, X.; Wang, Z. X.; Weng, Z. L.; Whitman, K.; Wienkenhã¶ver, J.; Wu, H.; Xia, X.; Xie, M.; Xie, S.; Xiong, R. Q.; Xin, G. M.; Xu, N. S.; Xu, W.; Yan, Q.; Yang, J.; Yang, M.; Ye, Q. H.; Yi, H.; Yu, Y. J.; Yu, Z. Q.; Zeissler, S.; Zhang, J. H.; Zhang, M. T.; Zhang, X. B.; Zhang, Z.; Zheng, Z. M.; Zhuang, H. L.; Zhukov, V.; Zichichi, A.; Zimmermann, N.; Zuccon, P.; Zurbach, C.. - In: PHYSICAL REVIEW LETTERS. - ISSN 0031-9007. - ELETTRONICO. - 113:22(2014), pp. 221102.1-221102.7. [10.1103/PhysRevLett.113.221102]
Precision measurement of the (e++e-) flux in primary cosmic rays from 0.5 GeV to 1 TeV with the alpha magnetic spectrometer on the international space station
Aguilar, M.;Aisa, D.;Alpat, B.;Alvino, A.;Ambrosi, G.;Andeen, K.;Arruda, L.;Attig, N.;Azzarello, P.;Bachlechner, A.;Barao, F.;Barrau, A.;Barrin, L.;Bartoloni, A.;Basara, L.;Battarbee, M.;Battiston, R.;Bazo, J.;Becker, U.;Behlmann, M.;Beischer, B.;Berdugo, J.;Bertucci, B.;Bigongiari, G.;Bindi, V.;Bizzaglia, S.;Bizzarri, M.;Boella, G.;De Boer, W.;Bollweg, K.;Bonnivard, V.;Borgia, B.;Borsini, S.;Boschini, M. J.;Bourquin, M.;Burger, J.;Cadoux, F.;Cai, X. D.;Capell, M.;Caroff, S.;Casaus, J.;Cascioli, V.;Castellini, G.;Cernuda, I.;Cervelli, F.;Chae, M. J.;Chang, Y. H.;Chen, A. I.;Chen, H.;Cheng, G. M.;Chen, H. S.;Cheng, L.;Chikanian, A.;Chou, H. Y.;Choumilov, E.;Choutko, V.;Chung, C. H.;Clark, C.;Clavero, R.;Coignet, G.;Consolandi, C.;Contin, A.;Corti, C.;Coste, B.;Crispoltoni, M.;Cui, Z.;Dai, M.;Delgado, C.;Della Torre, S.;Demirköz, M. B.;Derome, L.;Di Falco, S.;Di Masso, L.;Dimiccoli, F.;DÃaz, C.;Von Doetinchem, P.;Donnini, F.;Du, W. J.;Duranti, M.;D'Urso, D.;Eline, A.;Eppling, F. J.;Eronen, T.;Fan, Y. Y.;Farnesini, L.;Feng, J.;Fiandrini, E.;Fiasson, A.;Finch, E.;Fisher, P.;Galaktionov, Y.;Gallucci, G.;GarcÃa, B.;GarcÃa-López, R.;Gargiulo, C.;Gast, H.;Gebauer, I.;Gervasi, M.;Ghelfi, A.;Gillard, W.;Giovacchini, F.;Goglov, P.;Gong, J.;Goy, C.;Grabski, V.;Grandi, D.;Graziani, M.;Guandalini, C.;Guerri, I.;Guo, K. H.;Habiby, M.;Haino, S.;Han, K. C.;He, Z. H.;Heil, M.;Hoffman, J.;Hsieh, T. H.;Huang, Z. C.;Huh, C.;Incagli, M.;Ionica, M.;Jang, W. Y.;Jinchi, H.;Kanishev, K.;Kim, G. N.;Kim, K. S.;Kirn, Th.;Kossakowski, R.;Kounina, O.;Kounine, A.;Koutsenko, V.;Krafczyk, M. S.;Kunz, S.;La Vacca, G.;Laudi, E.;Laurenti, G.;Lazzizzera, I.;Lebedev, A.;Lee, H. T.;Lee, S. C.;Leluc, C.;Li, H. L.;Li, J. Q.;Li, Q.;Li, Q.;Li, T. X.;Li, W.;Li, Y.;Li, Z. H.;Li, Z. Y.;Lim, S.;Lin, C. H.;Lipari, P.;Lippert, T.;Liu, D.;Liu, H.;Lomtadze, T.;Lu, M. J.;Lu, Y. S.;Luebelsmeyer, K.;Luo, F.;Luo, J. Z.;Lv, S. S.;Majka, R.;Malinin, A.;Mañá, C.;MarÃn, J.;Martin, T.;MartÃnez, G.;Masi, N.;Maurin, D.;Menchaca-Rocha, A.;Meng, Q.;Mo, D. C.;Morescalchi, L.;Mott, P.;Müller, M.;Ni, J. Q.;Nikonov, N.;Nozzoli, F.;Nunes, P.;Obermeier, A.;Oliva, A.;Orcinha, M.;Palmonari, F.;Palomares, C.;Paniccia, M.;Papi, A.;Pauluzzi, M.;Pedreschi, E.;Pensotti, S.;Pereira, R.;Pilo, F.;Piluso, A.;Pizzolotto, C.;Plyaskin, V.;Pohl, M.;Poireau, V.;Postaci, E.;Putze, A.;Quadrani, L.;Qi, X. M.;Räihä, T.;Rancoita, P. G.;Rapin, D.;Ricol, J. S.;RodrÃguez, I.;Rosier-Lees, S.;Rozhkov, A.;Rozza, D.;Sagdeev, R.;Sandweiss, J.;Saouter, P.;Sbarra, C.;Schael, S.;Schmidt, S. M.;Schuckardt, D.;Schulz Von Dratzig, A.;Schwering, G.;Scolieri, G.;Seo, E. S.;Shan, B. S.;Shan, Y. H.;Shi, J. Y.;Shi, X. Y.;Shi, Y. M.;Siedenburg, T.;Son, D.;Spada, F.;Spinella, F.;Sun, W.;Sun, W. H.;Tacconi, M.;Tang, C. P.;Tang, X. W.;Tang, Z. C.;Tao, L.;Tescaro, D.;Ting, Samuel C. C.;Ting, S. M.;Tomassetti, N.;Torsti, J.;Türkoʇlu, C.;Urban, T.;Vagelli, V.;Valente, E.;Vannini, C.;Valtonen, E.;Vaurynovich, S.;Vecchi, M.;Velasco, M.;Vialle, J. P.;Wang, L. Q.;Wang, Q. L.;Wang, R. S.;Wang, X.;Wang, Z. X.;Weng, Z. L.;Whitman, K.;Wienkenhöver, J.;Wu, H.;Xia, X.;Xie, M.;Xie, S.;Xiong, R. Q.;Xin, G. M.;Xu, N. S.;Xu, W.;Yan, Q.;Yang, J.;Yang, M.;Ye, Q. H.;Yi, H.;Yu, Y. J.;Yu, Z. Q.;Zeissler, S.;Zhang, J. H.;Zhang, M. T.;Zhang, X. B.;Zhang, Z.;Zheng, Z. M.;Zhuang, H. L.;Zhukov, V.;Zichichi, A.;Zimmermann, N.;Zuccon, P.;Zurbach, C.
2014-01-01
Abstract
We present a measurement of the cosmic ray (e(+) + e(-)) flux in the range 0.5 GeV to 1 TeV based on the analysis of 10.6 million (e(+) + e(-)) events collected by AMS. The statistics and the resolution of AMS provide a precision measurement of the flux. The flux is smooth and reveals new and distinct information. Above 30.2 GeV, the flux can be described by a single power law with a spectral index gamma = -3.170 +/- 0.008(stat + syst) +/- 0.008(energy scale).
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Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.
