We present a measurement of the cosmic ray (e(+) + e(-)) flux in the range 0.5 GeV to 1 TeV based on the analysis of 10.6 million (e(+) + e(-)) events collected by AMS. The statistics and the resolution of AMS provide a precision measurement of the flux. The flux is smooth and reveals new and distinct information. Above 30.2 GeV, the flux can be described by a single power law with a spectral index gamma = -3.170 +/- 0.008(stat + syst) +/- 0.008(energy scale).

Precision measurement of the (e++e-) flux in primary cosmic rays from 0.5 GeV to 1 TeV with the alpha magnetic spectrometer on the international space station / Aguilar, M.; Aisa, D.; Alpat, B.; Alvino, A.; Ambrosi, G.; Andeen, K.; Arruda, L.; Attig, N.; Azzarello, P.; Bachlechner, A.; Barao, F.; Barrau, A.; Barrin, L.; Bartoloni, A.; Basara, L.; Battarbee, M.; Battiston, R.; Bazo, J.; Becker, U.; Behlmann, M.; Beischer, B.; Berdugo, J.; Bertucci, B.; Bigongiari, G.; Bindi, V.; Bizzaglia, S.; Bizzarri, M.; Boella, G.; De Boer, W.; Bollweg, K.; Bonnivard, V.; Borgia, B.; Borsini, S.; Boschini, M. J.; Bourquin, M.; Burger, J.; Cadoux, F.; Cai, X. D.; Capell, M.; Caroff, S.; Casaus, J.; Cascioli, V.; Castellini, G.; Cernuda, I.; Cervelli, F.; Chae, M. J.; Chang, Y. H.; Chen, A. I.; Chen, H.; Cheng, G. M.; Chen, H. S.; Cheng, L.; Chikanian, A.; Chou, H. Y.; Choumilov, E.; Choutko, V.; Chung, C. H.; Clark, C.; Clavero, R.; Coignet, G.; Consolandi, C.; Contin, A.; Corti, C.; Coste, B.; Crispoltoni, M.; Cui, Z.; Dai, M.; Delgado, C.; Della Torre, S.; Demirkã¶z, M. B.; Derome, L.; Di Falco, S.; Di Masso, L.; Dimiccoli, F.; Dã­az, C.; Von Doetinchem, P.; Donnini, F.; Du, W. J.; Duranti, M.; D'Urso, D.; Eline, A.; Eppling, F. J.; Eronen, T.; Fan, Y. Y.; Farnesini, L.; Feng, J.; Fiandrini, E.; Fiasson, A.; Finch, E.; Fisher, P.; Galaktionov, Y.; Gallucci, G.; Garcã­a, B.; García-López, R.; Gargiulo, C.; Gast, H.; Gebauer, I.; Gervasi, M.; Ghelfi, A.; Gillard, W.; Giovacchini, F.; Goglov, P.; Gong, J.; Goy, C.; Grabski, V.; Grandi, D.; Graziani, M.; Guandalini, C.; Guerri, I.; Guo, K. H.; Habiby, M.; Haino, S.; Han, K. C.; He, Z. H.; Heil, M.; Hoffman, J.; Hsieh, T. H.; Huang, Z. C.; Huh, C.; Incagli, M.; Ionica, M.; Jang, W. Y.; Jinchi, H.; Kanishev, K.; Kim, G. N.; Kim, K. S.; Kirn, Th.; Kossakowski, R.; Kounina, O.; Kounine, A.; Koutsenko, V.; Krafczyk, M. S.; Kunz, S.; La Vacca, G.; Laudi, E.; Laurenti, G.; Lazzizzera, I.; Lebedev, A.; Lee, H. T.; Lee, S. C.; Leluc, C.; Li, H. L.; Li, J. Q.; Li, Q.; Li, Q.; Li, T. X.; Li, W.; Li, Y.; Li, Z. H.; Li, Z. Y.; Lim, S.; Lin, C. H.; Lipari, P.; Lippert, T.; Liu, D.; Liu, H.; Lomtadze, T.; Lu, M. J.; Lu, Y. S.; Luebelsmeyer, K.; Luo, F.; Luo, J. Z.; Lv, S. S.; Majka, R.; Malinin, A.; Maã±ã¡, C.; Marã­n, J.; Martin, T.; Martã­nez, G.; Masi, N.; Maurin, D.; Menchaca-Rocha, A.; Meng, Q.; Mo, D. C.; Morescalchi, L.; Mott, P.; Mã¼ller, M.; Ni, J. Q.; Nikonov, N.; Nozzoli, F.; Nunes, P.; Obermeier, A.; Oliva, A.; Orcinha, M.; Palmonari, F.; Palomares, C.; Paniccia, M.; Papi, A.; Pauluzzi, M.; Pedreschi, E.; Pensotti, S.; Pereira, R.; Pilo, F.; Piluso, A.; Pizzolotto, C.; Plyaskin, V.; Pohl, M.; Poireau, V.; Postaci, E.; Putze, A.; Quadrani, L.; Qi, X. M.; Rã¤ihã¤, T.; Rancoita, P. G.; Rapin, D.; Ricol, J. S.; Rodrã­guez, I.; Rosier-Lees, S.; Rozhkov, A.; Rozza, D.; Sagdeev, R.; Sandweiss, J.; Saouter, P.; Sbarra, C.; Schael, S.; Schmidt, S. M.; Schuckardt, D.; Schulz Von Dratzig, A.; Schwering, G.; Scolieri, G.; Seo, E. S.; Shan, B. S.; Shan, Y. H.; Shi, J. Y.; Shi, X. Y.; Shi, Y. M.; Siedenburg, T.; Son, D.; Spada, F.; Spinella, F.; Sun, W.; Sun, W. H.; Tacconi, M.; Tang, C. P.; Tang, X. W.; Tang, Z. C.; Tao, L.; Tescaro, D.; Ting, Samuel C. C.; Ting, S. M.; Tomassetti, N.; Torsti, J.; Türkoʇlu, C.; Urban, T.; Vagelli, V.; Valente, E.; Vannini, C.; Valtonen, E.; Vaurynovich, S.; Vecchi, M.; Velasco, M.; Vialle, J. P.; Wang, L. Q.; Wang, Q. L.; Wang, R. S.; Wang, X.; Wang, Z. X.; Weng, Z. L.; Whitman, K.; Wienkenhã¶ver, J.; Wu, H.; Xia, X.; Xie, M.; Xie, S.; Xiong, R. Q.; Xin, G. M.; Xu, N. S.; Xu, W.; Yan, Q.; Yang, J.; Yang, M.; Ye, Q. H.; Yi, H.; Yu, Y. J.; Yu, Z. Q.; Zeissler, S.; Zhang, J. H.; Zhang, M. T.; Zhang, X. B.; Zhang, Z.; Zheng, Z. M.; Zhuang, H. L.; Zhukov, V.; Zichichi, A.; Zimmermann, N.; Zuccon, P.; Zurbach, C.. - In: PHYSICAL REVIEW LETTERS. - ISSN 0031-9007. - ELETTRONICO. - 113:22(2014), pp. 221102.1-221102.7. [10.1103/PhysRevLett.113.221102]

Precision measurement of the (e++e-) flux in primary cosmic rays from 0.5 GeV to 1 TeV with the alpha magnetic spectrometer on the international space station

Battiston, R.;Burger, J.;Dimiccoli, F.;Lazzizzera, I.;Nozzoli, F.;Zuccon, P.;
2014-01-01

Abstract

We present a measurement of the cosmic ray (e(+) + e(-)) flux in the range 0.5 GeV to 1 TeV based on the analysis of 10.6 million (e(+) + e(-)) events collected by AMS. The statistics and the resolution of AMS provide a precision measurement of the flux. The flux is smooth and reveals new and distinct information. Above 30.2 GeV, the flux can be described by a single power law with a spectral index gamma = -3.170 +/- 0.008(stat + syst) +/- 0.008(energy scale).
2014
22
Aguilar, M.; Aisa, D.; Alpat, B.; Alvino, A.; Ambrosi, G.; Andeen, K.; Arruda, L.; Attig, N.; Azzarello, P.; Bachlechner, A.; Barao, F.; Barrau, A.; B...espandi
Precision measurement of the (e++e-) flux in primary cosmic rays from 0.5 GeV to 1 TeV with the alpha magnetic spectrometer on the international space station / Aguilar, M.; Aisa, D.; Alpat, B.; Alvino, A.; Ambrosi, G.; Andeen, K.; Arruda, L.; Attig, N.; Azzarello, P.; Bachlechner, A.; Barao, F.; Barrau, A.; Barrin, L.; Bartoloni, A.; Basara, L.; Battarbee, M.; Battiston, R.; Bazo, J.; Becker, U.; Behlmann, M.; Beischer, B.; Berdugo, J.; Bertucci, B.; Bigongiari, G.; Bindi, V.; Bizzaglia, S.; Bizzarri, M.; Boella, G.; De Boer, W.; Bollweg, K.; Bonnivard, V.; Borgia, B.; Borsini, S.; Boschini, M. J.; Bourquin, M.; Burger, J.; Cadoux, F.; Cai, X. D.; Capell, M.; Caroff, S.; Casaus, J.; Cascioli, V.; Castellini, G.; Cernuda, I.; Cervelli, F.; Chae, M. J.; Chang, Y. H.; Chen, A. I.; Chen, H.; Cheng, G. M.; Chen, H. S.; Cheng, L.; Chikanian, A.; Chou, H. Y.; Choumilov, E.; Choutko, V.; Chung, C. H.; Clark, C.; Clavero, R.; Coignet, G.; Consolandi, C.; Contin, A.; Corti, C.; Coste, B.; Crispoltoni, M.; Cui, Z.; Dai, M.; Delgado, C.; Della Torre, S.; Demirkã¶z, M. B.; Derome, L.; Di Falco, S.; Di Masso, L.; Dimiccoli, F.; Dã­az, C.; Von Doetinchem, P.; Donnini, F.; Du, W. J.; Duranti, M.; D'Urso, D.; Eline, A.; Eppling, F. J.; Eronen, T.; Fan, Y. Y.; Farnesini, L.; Feng, J.; Fiandrini, E.; Fiasson, A.; Finch, E.; Fisher, P.; Galaktionov, Y.; Gallucci, G.; Garcã­a, B.; García-López, R.; Gargiulo, C.; Gast, H.; Gebauer, I.; Gervasi, M.; Ghelfi, A.; Gillard, W.; Giovacchini, F.; Goglov, P.; Gong, J.; Goy, C.; Grabski, V.; Grandi, D.; Graziani, M.; Guandalini, C.; Guerri, I.; Guo, K. H.; Habiby, M.; Haino, S.; Han, K. C.; He, Z. H.; Heil, M.; Hoffman, J.; Hsieh, T. H.; Huang, Z. C.; Huh, C.; Incagli, M.; Ionica, M.; Jang, W. Y.; Jinchi, H.; Kanishev, K.; Kim, G. N.; Kim, K. S.; Kirn, Th.; Kossakowski, R.; Kounina, O.; Kounine, A.; Koutsenko, V.; Krafczyk, M. S.; Kunz, S.; La Vacca, G.; Laudi, E.; Laurenti, G.; Lazzizzera, I.; Lebedev, A.; Lee, H. T.; Lee, S. C.; Leluc, C.; Li, H. L.; Li, J. Q.; Li, Q.; Li, Q.; Li, T. X.; Li, W.; Li, Y.; Li, Z. H.; Li, Z. Y.; Lim, S.; Lin, C. H.; Lipari, P.; Lippert, T.; Liu, D.; Liu, H.; Lomtadze, T.; Lu, M. J.; Lu, Y. S.; Luebelsmeyer, K.; Luo, F.; Luo, J. Z.; Lv, S. S.; Majka, R.; Malinin, A.; Maã±ã¡, C.; Marã­n, J.; Martin, T.; Martã­nez, G.; Masi, N.; Maurin, D.; Menchaca-Rocha, A.; Meng, Q.; Mo, D. C.; Morescalchi, L.; Mott, P.; Mã¼ller, M.; Ni, J. Q.; Nikonov, N.; Nozzoli, F.; Nunes, P.; Obermeier, A.; Oliva, A.; Orcinha, M.; Palmonari, F.; Palomares, C.; Paniccia, M.; Papi, A.; Pauluzzi, M.; Pedreschi, E.; Pensotti, S.; Pereira, R.; Pilo, F.; Piluso, A.; Pizzolotto, C.; Plyaskin, V.; Pohl, M.; Poireau, V.; Postaci, E.; Putze, A.; Quadrani, L.; Qi, X. M.; Rã¤ihã¤, T.; Rancoita, P. G.; Rapin, D.; Ricol, J. S.; Rodrã­guez, I.; Rosier-Lees, S.; Rozhkov, A.; Rozza, D.; Sagdeev, R.; Sandweiss, J.; Saouter, P.; Sbarra, C.; Schael, S.; Schmidt, S. M.; Schuckardt, D.; Schulz Von Dratzig, A.; Schwering, G.; Scolieri, G.; Seo, E. S.; Shan, B. S.; Shan, Y. H.; Shi, J. Y.; Shi, X. Y.; Shi, Y. M.; Siedenburg, T.; Son, D.; Spada, F.; Spinella, F.; Sun, W.; Sun, W. H.; Tacconi, M.; Tang, C. P.; Tang, X. W.; Tang, Z. C.; Tao, L.; Tescaro, D.; Ting, Samuel C. C.; Ting, S. M.; Tomassetti, N.; Torsti, J.; Türkoʇlu, C.; Urban, T.; Vagelli, V.; Valente, E.; Vannini, C.; Valtonen, E.; Vaurynovich, S.; Vecchi, M.; Velasco, M.; Vialle, J. P.; Wang, L. Q.; Wang, Q. L.; Wang, R. S.; Wang, X.; Wang, Z. X.; Weng, Z. L.; Whitman, K.; Wienkenhã¶ver, J.; Wu, H.; Xia, X.; Xie, M.; Xie, S.; Xiong, R. Q.; Xin, G. M.; Xu, N. S.; Xu, W.; Yan, Q.; Yang, J.; Yang, M.; Ye, Q. H.; Yi, H.; Yu, Y. J.; Yu, Z. Q.; Zeissler, S.; Zhang, J. H.; Zhang, M. T.; Zhang, X. B.; Zhang, Z.; Zheng, Z. M.; Zhuang, H. L.; Zhukov, V.; Zichichi, A.; Zimmermann, N.; Zuccon, P.; Zurbach, C.. - In: PHYSICAL REVIEW LETTERS. - ISSN 0031-9007. - ELETTRONICO. - 113:22(2014), pp. 221102.1-221102.7. [10.1103/PhysRevLett.113.221102]
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
2014_PhysRevLett.113.221102-2.pdf

Solo gestori archivio

Tipologia: Versione editoriale (Publisher’s layout)
Licenza: Tutti i diritti riservati (All rights reserved)
Dimensione 385.06 kB
Formato Adobe PDF
385.06 kB Adobe PDF   Visualizza/Apri

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11572/195462
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? 7
  • Scopus 317
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 254
  • OpenAlex ND
social impact