First experimental results on active and slim-edge silicon sensors for XFEL / Pancheri, Lucio; Benkechcache, M. E. A.; Dalla Betta, Gian Franco; Xu, Hesong; Verzellesi, Giovanni; Ronchin, Sabina; Boscardin, Maurizio; Ratti, L.; Grassi, M.; Lodola, L.; Malcovati, P.; Vacchi, C.; Manghisoni, M.; Re, V.; Traversi, G.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Casarosa, G.; Giorgi, M.; Forti, F.; Paladino, A.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Morsani, F.; Fabris, L.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - ELETTRONICO. - 11:12(2016), pp. C12018-C12018. [10.1088/1748-0221/11/12/C12018]
First experimental results on active and slim-edge silicon sensors for XFEL
Pancheri, Lucio;Dalla Betta, Gian Franco;Xu, Hesong;Verzellesi, Giovanni;Ronchin, Sabina;BOSCARDIN, MAURIZIO;
2016-01-01
File in questo prodotto:
| File | Dimensione | Formato | |
|---|---|---|---|
|
JINST_2016.pdf
Solo gestori archivio
Tipologia:
Versione editoriale (Publisher’s layout)
Licenza:
Altra licenza (Other type of license)
Dimensione
3.7 MB
Formato
Adobe PDF
|
3.7 MB | Adobe PDF | Visualizza/Apri |
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione
