First experimental results on active and slim-edge silicon sensors for XFEL

Pancheri, Lucio; Benkechcache, M. E. A.; Dalla Betta, Gian Franco; Xu, Hesong; Verzellesi, Giovanni; Ronchin, Sabina; Boscardin, Maurizio; Ratti, L.; Grassi, M.; Lodola, L.; Malcovati, P.; Vacchi, C.; Manghisoni, M.; Re, V.; Traversi, G.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Casarosa, G.; Giorgi, M.; Forti, F.; Paladino, A.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Morsani, F.; Fabris, L.

doi:10.1088/1748-0221/11/12/C12018

First experimental results on active and slim-edge silicon sensors for XFEL / Pancheri, L., Benkechcache, M.E.A., Dalla Betta, G.F., Xu, H., Verzellesi, G., Ronchin, S., Boscardin, M., Ratti, L., Grassi, M., Lodola, L., Malcovati, P., Vacchi, C., Manghisoni, M., Re, V., Traversi, G., Batignani, G., Bettarini, S., Casarosa, G., Giorgi, M., Forti, F., et al.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - ELETTRONICO. - 11:12(2016), pp. C12018-C12018. [10.1088/1748-0221/11/12/C12018]

First experimental results on active and slim-edge silicon sensors for XFEL

Pancheri, Lucio;Benkechcache, M. E. A.;Dalla Betta, Gian Franco;Xu, Hesong;Verzellesi, Giovanni;Ronchin, Sabina;BOSCARDIN, MAURIZIO;Ratti, L.;Grassi, M.;Lodola, L.;Malcovati, P.;Vacchi, C.;Manghisoni, M.;Re, V.;Traversi, G.;Batignani, G.;Bettarini, S.;Casarosa, G.;Giorgi, M.;Forti, F.;Paladino, A.;Paoloni, E.;Rizzo, G.;Morsani, F.;Fabris, L.

2016-01-01

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Scheda completa (DC)

	Anno di pubblicazione (Date of publication)
	
				2016
			
	Titolo del periodico (Journal title)
	
				JOURNAL OF INSTRUMENTATION
			
	Numero e parte del fascicolo (Issue number and part)
	
				12
			
	DOI
	
				https://dx.doi.org/10.1088/1748-0221/11/12/C12018
			
	Codice Scopus (Scopus identifier)
	
				2-s2.0-85008164777
			
	Codice WOS (WOS identifier)
	
				WOS:000395731900018
			
	Tutti gli autori
	
						Pancheri, Lucio; Benkechcache, M. E. A.; Dalla Betta, Gian Franco; Xu, Hesong; Verzellesi, Giovanni; Ronchin, Sabina; Boscardin, Maurizio; Ratti, L.; ...espandi
						
	Citazione
	
				First experimental results on active and slim-edge silicon sensors for XFEL / Pancheri, L., Benkechcache, M.E.A., Dalla Betta, G.F., Xu, H., Verzellesi, G., Ronchin, S., Boscardin, M., Ratti, L., Grassi, M., Lodola, L., Malcovati, P., Vacchi, C., Manghisoni, M., Re, V., Traversi, G., Batignani, G., Bettarini, S., Casarosa, G., Giorgi, M., Forti, F., et al.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - ELETTRONICO. - 11:12(2016), pp. C12018-C12018. [10.1088/1748-0221/11/12/C12018]
			
	Appare nelle tipologie:
	
				03.1 Articolo su rivista (Journal article)

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