IRIS

Combined Bulk and Surface Radiation Damage Effects at Very High Fluences in Silicon Detectors: Measurements and TCAD Simulations

Mendicino, Roberto;Dalla Betta, Gian Franco;
2016-01-01
2016
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE
5
2-s2.0-84992127841
WOS:000386228400016
Moscatelli, F.; Passeri, D.; Morozzi, A.; Mendicino, Roberto; Dalla Betta, Gian Franco; Bilei, G. M.
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