Limit to the erbium ions emission in silicon rich oxide films by erbium ion clustering
Prtljaga, Nikola;Navarro Urrios, Daniel;Tengattini, Andrea;Pavesi, Lorenzo
2012-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione