Electrical pump & probe and injected carrier losses quantification in Er doped Si slot waveguides

Morales Ramirez, Itzel; Berence, Y.; Ferrarese, F.; Navarro Urrios, D.; Anopchenko, Oleksiy; Tengattini, Andrea; Prtljaga, Nikola; Pavesi, Lorenzo; Rivallin, P.; Fedeli, J. M.; Garrido, B.

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Electrical pump & probe and injected carrier losses quantification in Er doped Si slot waveguides / Morales Ramirez; I.; Berence, Y.; Ferrarese, F.; Navarro-Urrios, D.; Anopchenko, A.; Tengattini, A.; Prtljaga, N.; Pavesi, L.; Rivallin, P.; Fedeli, J. M.; Garrido, B.. - In: OPTICS EXPRESS. - ISSN 1094-4087. - ELETTRONICO. - 2012:20(2012), pp. 28808-28818.

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Titolo:	Electrical pump & probe and injected carrier losses quantification in Er doped Si slot waveguides
Autori Unitn:	Morales Ramirez, Itzel I. Berence, Y. Ferrarese, F. Navarro Urrios, D. Anopchenko, Oleksiy Tengattini, Andrea Prtljaga, Nikola Pavesi, Lorenzo Rivallin, P. Fedeli, J. M. Garrido, B. mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Anno di pubblicazione:	2012
Titolo del periodico:	OPTICS EXPRESS
Handle:	http://hdl.handle.net/11572/116116
Appare nelle tipologie:	03.1 Articolo su rivista (Journal article)

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