Electrical pump & probe and injected carrier losses quantification in Er doped Si slot waveguides / Morales Ramirez, Itzel; Berence, Y.; Ferrarese, F.; Navarro Urrios, D.; Anopchenko, Oleksiy; Tengattini, Andrea; Prtljaga, Nikola; Pavesi, Lorenzo; Rivallin, P.; Fedeli, J. M.; Garrido, B.. - In: OPTICS EXPRESS. - ISSN 1094-4087. - ELETTRONICO. - 2012:20(2012), pp. 28808-28818.
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Titolo: | Electrical pump & probe and injected carrier losses quantification in Er doped Si slot waveguides | |
Autori: | Morales Ramirez, Itzel; Berence, Y.; Ferrarese, F.; Navarro Urrios, D.; Anopchenko, Oleksiy; Tengattini, Andrea; Prtljaga, Nikola; Pavesi, Lorenzo; Rivallin, P.; Fedeli, J. M.; Garrido, B. | |
Autori Unitn: | ||
Titolo del periodico: | OPTICS EXPRESS | |
Anno di pubblicazione: | 2012 | |
Numero e parte del fascicolo: | 20 | |
Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-84872049641 | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11572/116116 | |
Appare nelle tipologie: | 03.1 Articolo su rivista (Journal article) |
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