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EnglishElectrical pump & probe and injected carrier losses quantification in Er doped Si slot waveguides / Morales Ramirez, Itzel; Berence, Y.; Ferrarese, F.; Navarro Urrios, D.; Anopchenko, Oleksiy; Tengattini, Andrea; Prtljaga, Nikola; Pavesi, Lorenzo; Rivallin, P.; Fedeli, J. M.; Garrido, B.. - In: OPTICS EXPRESS. - ISSN 1094-4087. - ELETTRONICO. - 2012:20(2012), pp. 28808-28818.
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| Titolo: | Electrical pump & probe and injected carrier losses quantification in Er doped Si slot waveguides |
| Autori: | Morales Ramirez, Itzel; Berence, Y.; Ferrarese, F.; Navarro Urrios, D.; Anopchenko, Oleksiy; Tengattini, Andrea; Prtljaga, Nikola; Pavesi, Lorenzo; Rivallin, P.; Fedeli, J. M.; Garrido, B. |
| Autori Unitn: | |
| Titolo del periodico: | OPTICS EXPRESS |
| Anno di pubblicazione: | 2012 |
| Numero e parte del fascicolo: | 20 |
| Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-84872049641 |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11572/116116 |
| Appare nelle tipologie: | 03.1 Articolo su rivista (Journal article) |
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