RicercaInizia una nuova ricerca
NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.
Triple-Junction colour sensor fully compatible with CMOS technology: results of a test chip
2002-01-01 Dalla Betta, Gian Franco; N., Zorzi; P., Bellutti; M., Boscardin; Soncini, Giovanni
Two-dimensional numerical simulation of edge-generated currents in type inverted,p+-n single sided silicon microstrip detecctors
1999-01-01 Verzellesi, Giovanni; Dalla Betta, Gian Franco; Pignatel, Giorgio Umberto; Soncini, Giovanni
Update on scribe–cleave–passivate (SCP) slim edge technology for silicon sensors: Automated processing and radiation resistance
2014-01-01 V., Fadeyev; S., Ely; Z., Galloway; J., Ngo; C., Parker; H. F. W., Sadrozinski; M., Christophersen; B. F., Phlips; G., Pellegrini; J. M., Rafi; D., Quirion; Dalla Betta, Gian Franco; Boscardin, Maurizio; G., Casse; I., Gorelov; M., Hoeferkamp; J., Metcalfe; S., Seidel; E., Gaubas; T., Ceponis; J. V., Vaitkus
Why and how pixels are becoming more and more "intelligent" (sensors - Part 2)
2015-01-01 Dalla Betta, Gian Franco
Legenda icone
- file ad accesso aperto
- file disponibili sulla rete interna
- file disponibili agli utenti autorizzati
- file disponibili solo agli amministratori
- file sotto embargo
- nessun file disponibile
Opzioni
Scopri
Tipologia
- 03 Contributo in periodico (Part ... 301
- 03 Contributo in periodico (Part ... 301
- 04 Convegni (Proceedings) 169
- 04 Convegni (Proceedings)::04.1 S... 169
- 02 Contributo in volume (Part of ... 3
- 02 Contributo in volume (Part of ... 3
- 01 Libro (Book) 1
- 01 Libro (Book)::01.2 Libro in qu... 1
Data di pubblicazione
- 2020 - 2023 55
- 2010 - 2019 212
- 2000 - 2009 170
- 1992 - 1999 37
Editore
- IEEE 72
- Institute of Electrical and Elect... 18
- SISSA 11
- SPIE 7
- Elsevier BV:PO Box 211, 1000 AE A... 6
- World Scientific 6
- Sissa Medialab Srl 5
- IEEE / Institute of Electrical an... 3
- World Scientific Publishing 3
- ESA Publications Division, IEEE 2
Rivista
- NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN ... 153
- JOURNAL OF INSTRUMENTATION 50
- IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE 36
- FRONTIERS IN PHYSICS 8
- POS PROCEEDINGS OF SCIENCE 6
- IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEV... 5
- MICROELECTRONICS JOURNAL 5
- ELECTRONICS LETTERS 3
- NUOVO CIMENTO DELLA SOCIETÀ ITALI... 3
- SENSORS 3
Serie
- PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 3
- DIGEST OF TECHNICAL PAPERS - IEEE... 1
- JOURNAL OF PHYSICS. CONFERENCE SE... 1
- SPRINGER PROCEEDINGS IN PHYSICS 1
Keyword
- Instrumentation 45
- Nuclear and High Energy Physics 39
- Radiation-hard detectors 25
- Solid state detectors 19
- Particle tracking detectors (Soli... 17
- CMOS 15
- Nuclear Medicine and Imaging 15
- Radiology 15
- Mathematical Physics 13
- charge transport 12
Lingua
- eng 444
- ita 11
Accesso al fulltext
- no fulltext 366
- reserved 76
- open 26
- partially open 6