IRIS

Dynamic SIMS Characterization of Ge1-xSnx alloy

Secchi, Maria;
2013-01-01
2013
SIMS - 19 The 19th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry
Secchi, Maria; Demenev, E.; Giubertoni, D.; Bersani, M.
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11572/98359
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
  • OpenAlex ND
social impact