IRIS

Toward an Improved Error Metric

Sebe, Niculae;
2004-01-01
2004
Proceedings of the International Conference on Image Processing
Los Alamitos
IEEE
2-s2.0-20444505637
WOS:000228043503017
Q., Tian; Sebe, Niculae; Q., Xue; J., Yu; T. S., Huang
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