Whole Powder Pattern Modeling (WPPM) is especially useful to study line defects in powder and polycrystalline materials. As a result of recent progresses in this field, dislocation studies can be carried out for any slip system and crystal symmetry of the studied phases. Basic theory and procedures are described with the help of some representative cases of study. The use of the dislocation-related broadening in the PM2K software implementing the WPPM approach is shown with practical examples.
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Titolo: | WPPM: Advances in the Modeling of Dislocation Line Broadening |
Autori: | Leoni, Matteo; J., Martinez Garcia; Scardi, Paolo |
Autori Unitn: | |
Titolo del volume contenente il saggio: | Extending the Reach of Powder Diffraction Modelling by user defined macros |
Luogo di edizione: | Svizzera |
Casa editrice: | TTP Trans Tech Publications |
Anno di pubblicazione: | 2010 |
Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-77954770909 |
Codice identificativo ISI: | WOS:000278844900014 |
ISBN: | 9780878492619 |
Handle: | http://hdl.handle.net/11572/92901 |
Appare nelle tipologie: | 04.1 Saggio in atti di convegno (Paper in proceedings) |