The implementation of a physically-sound size broadening model for peak profiles in the Rietveld method is presented. TOPAS macros are provided and the results compared with analogous modelling performed according to advanced analysis methods such as the Whole Powder Pattern Modelling.
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Titolo: | Domain Size Analysis in the Rietveld Method |
Autori: | W. I. F., David; Leoni, Matteo; Scardi, Paolo |
Autori Unitn: | |
Titolo del volume contenente il saggio: | Extending the Reach of Powder Diffraction Modelling by user defined macros |
Luogo di edizione: | Svizzera |
Casa editrice: | TTP Trans Tech Publications |
Anno di pubblicazione: | 2010 |
Codice identificativo Scopus: | 2-s2.0-77954792104 |
Codice identificativo ISI: | WOS:000278844900015 |
ISBN: | 9780878492619 |
Handle: | http://hdl.handle.net/11572/92899 |
Appare nelle tipologie: | 04.1 Saggio in atti di convegno (Paper in proceedings) |
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