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EnglishThermal Evolution of Defect Profiles in H-Implanted Silicon Studies by Slow Positrons / R.S.Brusa; M.Duarte Naia; A.Dupasquier; G.Ottaviani; R.Tonini; A.Zecca. - STAMPA. - 105-110(1992), p. 1367. ((Intervento presentato al convegno ICPA-9 tenutosi a Szombathely, Hungary nel 1991.
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http://hdl.handle.net/11572/92085| Titolo: | Thermal Evolution of Defect Profiles in H-Implanted Silicon Studies by Slow Positrons |
| Autori Unitn: | Brusa, Roberto Sennen |
| Anno di pubblicazione: | 1992 |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11572/92085 |
| ISBN: | 9780878496365 |
| Appare nelle tipologie: | 04.1 Saggio in atti di convegno (Paper in proceedings) |
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