IRIS

Measurements of 3D Silicon Strip Sensors by Two Manufacturers

Dalla Betta, Gian Franco;Zoboli, Andrea;BOSCARDIN, MAURIZIO;Ronchin, Sabina;
2010-01-01
2010
9th International Conference on Large Scale Applications and Radiation Hardness of Semiconductor Detectors
Trieste
SISSA
M., Köhler; S., Eckert; K., Jakobs; S., Kühn; G., Pahn; U., Parzefall; C., Fleta; G., Pellegrini; M., Lozano; Dalla Betta, Gian Franco; Zoboli, Andrea...espandi
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