Measurements of 3D Silicon Strip Sensors by Two Manufacturers

Köhler, M.; Eckert, S.; Jakobs, K.; Kühn, S.; Pahn, G.; Parzefall, U.; Fleta, C.; Pellegrini, G.; Lozano, M.; Dalla Betta, Gian Franco; Zoboli, Andrea; Boscardin, Maurizio; Ronchin, Sabina; Zorzi, N.; Härkönen, J.; Luukka, P. R.; Mäenpää, T.; Moilanen, H.; Bates, R.; Houston, S.; Parkes, C.

Measurements of 3D Silicon Strip Sensors by Two Manufacturers

M. Köhler;S. Eckert;K. Jakobs;S. Kühn;G. Pahn;U. Parzefall;C. Fleta;G. Pellegrini;M. Lozano;Dalla Betta, Gian Franco;Zoboli, Andrea;BOSCARDIN, MAURIZIO;Ronchin, Sabina;N. Zorzi;J. Härkönen;P. R. Luukka;T. Mäenpää;H. Moilanen;R. Bates;S. Houston;C. Parkes

2010-01-01

Scheda breve

Scheda completa

Scheda completa (DC)

	Anno di pubblicazione (Date of publication)
	
				2010
			
	Titolo del volume (Proceedings title)
	
				9th International Conference on Large Scale Applications and Radiation Hardness of Semiconductor Detectors
			
	Luogo di edizione (Place of publication)
	
				Trieste
			
	Casa editrice (Publisher)
	
				SISSA
			
	Tutti gli autori
	
						M., Köhler; S., Eckert; K., Jakobs; S., Kühn; G., Pahn; U., Parzefall; C., Fleta; G., Pellegrini; M., Lozano; Dalla Betta, Gian Franco; Zoboli, Andrea...espandi
						
	Appare nelle tipologie:
	
				04.1 Saggio in atti di convegno (Paper in Proceedings)