A Measurement Procedure of Technology-related Model Parameters for Enhanced RF-MEMS Design / J., Iannacci; Repchankova, Alena; Macii, David; M., Niessner. - ELETTRONICO. - (2009), pp. 44-49. (Intervento presentato al convegno AMUEM tenutosi a Bucarest, Romania nel 6-7 Luglio 2009) [10.1109/AMUEM.2009.5207609].
A Measurement Procedure of Technology-related Model Parameters for Enhanced RF-MEMS Design
J. Iannacci;Repchankova, Alena;Macii, David;
2009-01-01
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