Data Uncertainty Sensitivity Analysis for Reduced Complexity SVM Classifiers

Gubian, Michele; Boni, Andrea; Petri, Dario

Data Uncertainty Sensitivity Analysis for Reduced Complexity SVM Classifiers

Gubian, Michele;Boni, Andrea;Petri, Dario

2006-01-01

Scheda breve

Scheda completa

Scheda completa (DC)

	Anno di pubblicazione (Date of publication)
	
				2006
			
	Titolo del volume (Proceedings title)
	
				Proceedings 2006 IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference
			
	Luogo di edizione (Place of publication)
	
				U.S.A.
			
	Casa editrice (Publisher)
	
				IEEE
			
	Codice Scopus (Scopus Identifier)
	
				2-s2.0-36049039190
			
	Codice WOS (WOS identifier)
	
				WOS:000244176703011
			
	Tutti gli autori
	
						Gubian, Michele; Boni, Andrea; Petri, Dario
					
	Appare nelle tipologie:
	
				04.1 Saggio in atti di convegno (Paper in Proceedings)