EXAFS and XRD studies with subpicometer accuracy: the case of ReO3

Purans, J.; Dalba, Giuseppe; Fornasini, Paolo; Kuzmin, A.; De Panfilis, S.; Rocca, F.

EXAFS and XRD studies with subpicometer accuracy: the case of ReO3

J. Purans;Dalba, Giuseppe;Fornasini, Paolo;A. Kuzmin;S. De Panfilis;F. Rocca

2007-01-01

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	Anno di pubblicazione (Date of publication)
	
				2007
			
	Titolo del volume (Proceedings title)
	
				X-ray absorption fine structure - XAFS13: 13th international conference
			
	Luogo di edizione (Place of publication)
	
				Melville, N.Y.
			
	Casa editrice (Publisher)
	
				American Institute of Physics
			
	ISBN
	
				9780735403840
			
	Codice WOS (WOS identifier)
	
				WOS:000245805900122
			
	Tutti gli autori
	
						J., Purans; Dalba, Giuseppe; Fornasini, Paolo; A., Kuzmin; S., De Panfilis; F., Rocca
					
	Appare nelle tipologie:
	
				04.1 Saggio in atti di convegno (Paper in Proceedings)

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EXAFS and XRD studies with subpicometer accuracy: the case of ReO3

J. Purans;Dalba, Giuseppe;Fornasini, Paolo;A. Kuzmin;S. De Panfilis;F. Rocca

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