IRIS

Radiation damage tests of all-P-type termination structures for silicon detectors

Dalla Betta, Gian Franco;
2003-01-01
2003
IEEE
C., Piemonte; M., Boscardin; L., Bosisio; A., Candelori; M., Ciacchi; Dalla Betta, Gian Franco; S., Dittongo; A., Litovchenko; I., Rachevskaia; N., Zo...espandi
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