Study of breakdown effects in silicon multiguard structures

Dalla Betta, Gian Franco;Verzellesi, Giovanni;
1997-01-01

1997
IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference - NSS-MIC 1997- Conference Record
Piscataway
IEEE
N., Bacchetta; D., Bisello; M., Da Rold; Dalla Betta, Gian Franco; R., Dell'Orso; P., Fuochi; A., Lanza; A., Messineo; A., Mihul; O., Militaru; A., Pa...espandi
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