Analysis of breakdown behaviour of stacked dielectric capacitors for AC-coupled Si microstrip detectors

Dalla Betta, Gian Franco;Pignatel, Giorgio Umberto;ZEN, MARIO
1997-01-01

M., Boscardin; L., Bosisio; Dalla Betta, Gian Franco; L., Ferrario; Pignatel, Giorgio Umberto; Zen, Mario
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