Analysis of breakdown behaviour of stacked dielectric capacitors for AC-coupled Si microstrip detectors / M., Boscardin; L., Bosisio; Dalla Betta, Gian Franco; L., Ferrario; Pignatel, Giorgio Umberto; Zen, Mario. - (1997), pp. 185-190. ((Intervento presentato al convegno 33rd International Co9nference on Microelectronics devices and Materials tenutosi a Godz martuljek- SLO nel Settembre 1997.
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Titolo: | Analysis of breakdown behaviour of stacked dielectric capacitors for AC-coupled Si microstrip detectors | |
Autori: | M., Boscardin; L., Bosisio; Dalla Betta, Gian Franco; L., Ferrario; Pignatel, Giorgio Umberto; Zen, Mario | |
Autori Unitn: | ||
Anno di pubblicazione: | 1997 | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11572/49151 | |
Appare nelle tipologie: | 04.1 Saggio in atti di convegno (Paper in Proceedings) |
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