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We present flexible SiO2/HfO2 one-dimensional photonic crystals, fabricated via radio frequency sputtering. The structural, morphological, and optical features of the samples were investigated. One of the most remarkable finding lies in the experimental evidence showing that even after breakage, with visible cracks forming in the flexible glass, the multilayer structures largely retain their integrity.
Flexible glass planar structures fabricated by rf-sputtering / Tran, L. T. N.; Lis, S. Sudha Maria; Sengottaiyan, R.; Carlotto, A.; Szczurek, A.; Dell'Anna, R.; Babiarczu, B.; Sayginer, O.; Varas, S.; Vinante, A.; Pietralunga, S. M.; Krzak, J.; Bursi, O. S.; Zonta, D.; Lukowiak, A.; Righini, G. C.; Sglavo, V. M.; Ferrari, M.; Chiasera, A.. - In: EPJ WEB OF CONFERENCES. - ISSN 2100-014X. - 335:(2025), pp. 08006-08006. ( 2025 European Optical Society Annual Meeting, EOSAM 2025 nld 2025) [10.1051/epjconf/202533508006].
Flexible glass planar structures fabricated by rf-sputtering
We present flexible SiO2/HfO2 one-dimensional photonic crystals, fabricated via radio frequency sputtering. The structural, morphological, and optical features of the samples were investigated. One of the most remarkable finding lies in the experimental evidence showing that even after breakage, with visible cracks forming in the flexible glass, the multilayer structures largely retain their integrity.
Tran, L. T. N.; Lis, S. Sudha Maria; Sengottaiyan, R.; Carlotto, A.; Szczurek, A.; Dell'Anna, R.; Babiarczu, B.; Sayginer, O.; Varas, S.; Vinante, A.;...espandi
Flexible glass planar structures fabricated by rf-sputtering / Tran, L. T. N.; Lis, S. Sudha Maria; Sengottaiyan, R.; Carlotto, A.; Szczurek, A.; Dell'Anna, R.; Babiarczu, B.; Sayginer, O.; Varas, S.; Vinante, A.; Pietralunga, S. M.; Krzak, J.; Bursi, O. S.; Zonta, D.; Lukowiak, A.; Righini, G. C.; Sglavo, V. M.; Ferrari, M.; Chiasera, A.. - In: EPJ WEB OF CONFERENCES. - ISSN 2100-014X. - 335:(2025), pp. 08006-08006. ( 2025 European Optical Society Annual Meeting, EOSAM 2025 nld 2025) [10.1051/epjconf/202533508006].
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11572/470270
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simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.
