Proton induced damage in JFET based charge preamplifiers on high-resistivity silicon

Dalla Betta, Gian Franco;
2004

Proceedings of RADECS 2003
Noordwijk
ESA Publications Division, IEEE
Dalla Betta, Gian Franco; L., Ratti; M., Manghisoni; V., Re; V., Speziali; G., Traversi; A., Candolori
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/11572/44664
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact