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Swap test algorithm on a linear photonic chip for scalable quantum machine learning tasks / Baldazzi, Alessio; Leone, Nicolò; Sanna, Matteo; Azzini, Stefano; Pavesi, Lorenzo. - 64:(2024). (Intervento presentato al convegno CLEO_FS tenutosi a Charlotte, North Carolina, United States nel 5–10 May 2024) [10.1364/cleo_fs.2024.fm2k.3].

Swap test algorithm on a linear photonic chip for scalable quantum machine learning tasks

Baldazzi, Alessio
Primo
;Leone, Nicolò
Secondo
;Sanna, Matteo;Azzini, Stefano
Penultimo
;Pavesi, Lorenzo
Ultimo
2024-01-01
2024
Technical Digest Series
United States of America
Optica Publishing Group
Baldazzi, Alessio; Leone, Nicolò; Sanna, Matteo; Azzini, Stefano; Pavesi, Lorenzo
Swap test algorithm on a linear photonic chip for scalable quantum machine learning tasks / Baldazzi, Alessio; Leone, Nicolò; Sanna, Matteo; Azzini, Stefano; Pavesi, Lorenzo. - 64:(2024). (Intervento presentato al convegno CLEO_FS tenutosi a Charlotte, North Carolina, United States nel 5–10 May 2024) [10.1364/cleo_fs.2024.fm2k.3].
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