Understanding the Effect of Transpilation in the Reliability of Quantum Circuits / Dilillo, N., Giusto, E., Dri, E., Baheri, B., Guan, Q., Montrucchio, B., Rech, P.. - (2023). (2023 IEEE International Conference on Quantum Computing and Engineering (QCE) Stati Uniti 2023) [10.1109/qce57702.2023.10220].
Understanding the Effect of Transpilation in the Reliability of Quantum Circuits
Rech, PaoloUltimo
2023-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione



