PIN diode and integrated JFET on high resistivity silicon: a new test structure

Dalla Betta, Gian Franco;Pignatel, Giorgio Umberto;
2001-01-01

2001
A., Fazzi; Dalla Betta, Gian Franco; Pignatel, Giorgio Umberto; M., Boscardin; P., Gregori; N., Zorzi
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