The significative technological contribute provided by capacitive MicroElectroMechanical System Radio Frequency (MEMS RF) switches has to be accompanied with state–of–the–art methodologies for accurate measurements of their performances. In this paper, after a brief review on the design of a MEMS switch, a test bench for testing its time domain and reliability features is proposed.

Time Characterization of Capacitive MEMS RF Switches / Fontana, G.; Pianegiani, F.; Petri, D.; Giacomozzi, F.; Lorenzelli, L.; Turco, G.; Soncini, G.; Margesin, B. T.. - ELETTRONICO. - (2004).

Time Characterization of Capacitive MEMS RF Switches

Fontana, G.;Pianegiani, F.;Petri, D.;Giacomozzi, F.;Lorenzelli, L.;Soncini, G.;
2004-01-01

Abstract

The significative technological contribute provided by capacitive MicroElectroMechanical System Radio Frequency (MEMS RF) switches has to be accompanied with state–of–the–art methodologies for accurate measurements of their performances. In this paper, after a brief review on the design of a MEMS switch, a test bench for testing its time domain and reliability features is proposed.
2004
Trento, Italia
Università degli Studi di Trento. DEPARTMENT OF INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY
Time Characterization of Capacitive MEMS RF Switches / Fontana, G.; Pianegiani, F.; Petri, D.; Giacomozzi, F.; Lorenzelli, L.; Turco, G.; Soncini, G.; Margesin, B. T.. - ELETTRONICO. - (2004).
Fontana, G.; Pianegiani, F.; Petri, D.; Giacomozzi, F.; Lorenzelli, L.; Turco, G.; Soncini, G.; Margesin, B. T.
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