Analysis of CMOS 0.13µm Test Structures for 0.6 to 1.5 THz Imaging

Domingues, Suzana; Perenzoni, D.; Giliberti, V.; Di Gaspare, A.; Ortolani, M.; Perenzoni, M.; Stoppa, D.

doi:10.1109/IRMMW-THz.2013.6665619

Analysis of CMOS 0.13µm Test Structures for 0.6 to 1.5 THz Imaging

Domingues, Suzana;D. Perenzoni;V. Giliberti;A. Di Gaspare;M. Ortolani;M. Perenzoni;D. Stoppa

2013-01-01

Scheda breve

Scheda completa

Scheda completa (DC)

	Anno di pubblicazione (Date of publication)
	
				2013
			
	Titolo del volume (Proceedings title)
	
				Proceedings of the International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz)
			
	Luogo di edizione (Place of publication)
	
				Mainz
			
	Casa editrice (Publisher)
	
				IEEE . Institute of Electrical and Electronics Engineers
			
	Codice Scopus (Scopus Identifier)
	
				2-s2.0-84893355365
			
	Tutti gli autori
	
						Domingues, Suzana; D., Perenzoni; V., Giliberti; A., Di Gaspare; M., Ortolani; M., Perenzoni; D., Stoppa
					
	Appare nelle tipologie:
	
				04.1 Saggio in atti di convegno (Paper in Proceedings)