IRIS

Dynamic Testing of Analog-to-Digital Converters by Means of the Sine-Fitting Algorithms

Petri, Dario;
2013-01-01
2013
Design, Modeling and Testing of Data Converters
Netherlands
Springer Netherlands
9783642396557
Petri, Dario; Daniel, Belega; Dominique, Dallet
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11572/33403
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 5
  • OpenAlex ND
social impact