Test structure for mismatch characterization of MOS transistors in subthreshold regime

Conti, M.; Dalla Betta, Gian Franco; Orcioni, S.; Soncini, Giovanni; Turchetti, C.; Zorzi, N.

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Test structure for mismatch characterization of MOS transistors in subthreshold regime / M. Conti ; G. F. Dalla Betta ; S. Orcioni ; G. Soncini ; C. Turchetti ; N. Zorzi. - 10(1997), pp. 173-178. ((Intervento presentato al convegno 1997 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures tenutosi a Monterey (Calif.) nel 17-20 March 1997.

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Titolo:	Test structure for mismatch characterization of MOS transistors in subthreshold regime
Autori Unitn:	M. Conti Dalla Betta, Gian Franco S. Orcioni Soncini, Giovanni C. Turchetti N. Zorzi mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Anno di pubblicazione:	1997
Handle:	http://hdl.handle.net/11572/30803
Appare nelle tipologie:	04.1 Saggio in atti di convegno (Paper in proceedings)

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http://hdl.handle.net/11572/30803

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