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EnglishTest structure for mismatch characterization of MOS transistors in subthreshold regime / M., Conti; Dalla Betta, Gian Franco; S., Orcioni; Soncini, Giovanni; C., Turchetti; N., Zorzi. - 10(1997), pp. 173-178. ((Intervento presentato al convegno 1997 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures tenutosi a Monterey (Calif.) nel 17-20 March 1997.
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| Titolo: | Test structure for mismatch characterization of MOS transistors in subthreshold regime |
| Autori: | M., Conti; Dalla Betta, Gian Franco; S., Orcioni; Soncini, Giovanni; C., Turchetti; N., Zorzi |
| Autori Unitn: | |
| Casa editrice: | IEEE |
| Anno di pubblicazione: | 1997 |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11572/30803 |
| Appare nelle tipologie: | 04.1 Saggio in atti di convegno (Paper in proceedings) |
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