Test structure for mismatch characterization of MOS transistors in subthreshold regime / M., Conti; Dalla Betta, Gian Franco; S., Orcioni; Soncini, Giovanni; C., Turchetti; N., Zorzi. - 10(1997), pp. 173-178. ((Intervento presentato al convegno 1997 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures tenutosi a Monterey (Calif.) nel 17-20 March 1997.
Scheda prodotto non validato
I dati visualizzati non sono stati ancora sottoposti a validazione formale da parte dello Staff di IRIS, ma sono stati ugualmente trasmessi al Sito Docente Cineca (Loginmiur).
Titolo: | Test structure for mismatch characterization of MOS transistors in subthreshold regime |
Autori: | M., Conti; Dalla Betta, Gian Franco; S., Orcioni; Soncini, Giovanni; C., Turchetti; N., Zorzi |
Autori Unitn: | |
Casa editrice: | IEEE |
Anno di pubblicazione: | 1997 |
Handle: | http://hdl.handle.net/11572/30803 |
Appare nelle tipologie: | 04.1 Saggio in atti di convegno (Paper in proceedings) |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione