Analysis of radiation hardness and charge collection efficiency of thinned silicon diodes

Dalla Betta, Gian Franco;
2004

Proceedings of the 2004 EEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference
Piscataway, NJ
IEEE
M., Boscardin; M., Bruzzi; A., Candelori; Dalla Betta, Gian Franco; E., Focardi; V., Khomenkov; C., Piemonte; S., Ronchin; C., Tosi; N., Zorzi
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