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EnglishEvolution of Defects Profiles in He-Implanted Silicon studied by Slow Positrons / Brusa, Roberto Sennen; G., Karwasz; N., Tiengo; Zecca, Antonio; F., Corni; C., Nobili; G., Ottaviani; R., Tonini. - 665(1997), pp. 255-257. ((Intervento presentato al convegno 11th Intern.Conf. on Positron Annihilation tenutosi a Kansas City, Missouri, USA nel 25-30 May 1997.
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| Titolo: | Evolution of Defects Profiles in He-Implanted Silicon studied by Slow Positrons |
| Autori Unitn: | |
| Anno di pubblicazione: | 1997 |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11572/29541 |
| Appare nelle tipologie: | 04.1 Saggio in atti di convegno (Paper in proceedings) |
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