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Advanced X-ray diffraction line profile analysis methods for understanding the microstructure properties distributions of plutonium oxide as a function of processing conditions / Sweet, L. E.; Corbey, J. F.; Leoni, M.. - STAMPA. - (2018), pp. 182-184. (Intervento presentato al convegno Plutonium Futures: The Science 2018 tenutosi a Wyndham San Diego Bayside, usa nel 2018).

Advanced X-ray diffraction line profile analysis methods for understanding the microstructure properties distributions of plutonium oxide as a function of processing conditions

Leoni M.
2018-01-01
2018
Plutonium Futures - The Science 2018
;555 North Kensington Avenue
American Nuclear Society
2-s2.0-85066995114
Sweet, L. E.; Corbey, J. F.; Leoni, M.
Advanced X-ray diffraction line profile analysis methods for understanding the microstructure properties distributions of plutonium oxide as a function of processing conditions / Sweet, L. E.; Corbey, J. F.; Leoni, M.. - STAMPA. - (2018), pp. 182-184. (Intervento presentato al convegno Plutonium Futures: The Science 2018 tenutosi a Wyndham San Diego Bayside, usa nel 2018).
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