Bulk radiation damage induced in thin epitaxial silicon detectors by 24 GeV protons

Khomenkov, V.; Bisello, D.; Boscardin, M.; Bruzzi, M.; Candelori, A.; Dalla Betta, Gian Franco; Litovchenko, A.; Piemonte, C.; Rando, R.; Ravotti, F.; Zorzi, N.

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Bulk radiation damage induced in thin epitaxial silicon detectors by 24 GeV protons / V. Khomenkov ; D. Bisello ; M. Boscardin ; M. Bruzzi ; A. Candelori ; G. F. Dalla Betta ; A. Litovchenko ; C. Piemonte ; R. Rando ; F. Ravotti ; N. Zorzi. - ELETTRONICO. - 108/109(2005), pp. 315-320. ((Intervento presentato al convegno 11th International Autumn Meeting Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology (GADEST 2005) tenutosi a Giens Peninsula nel 25th-30th September 2005.

Titolo:	Bulk radiation damage induced in thin epitaxial silicon detectors by 24 GeV protons
Autori Unitn:	V. Khomenkov D. Bisello M. Boscardin M. Bruzzi A. Candelori Dalla Betta, Gian Franco A. Litovchenko C. Piemonte R. Rando F. Ravotti N. Zorzi mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Anno di pubblicazione:	2005
Handle:	http://hdl.handle.net/11572/28267
ISBN:	9783908451136
Appare nelle tipologie:	04.1 Saggio in atti di convegno (Paper in proceedings)

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