CINECA IRIS Institutional Research Information System
IRIS è l'Anagrafe della ricerca dell'Università degli Studi di Trento, e ha lo scopo di raccogliere, documentare, conservare e diffondere, anche ad accesso aperto, la produzione scientifica degli autori afferenti all'Università degli Studi di Trento.
EnglishBulk radiation damage induced in thin epitaxial silicon detectors by 24 GeV protons / V., Khomenkov; D., Bisello; M., Boscardin; M., Bruzzi; A., Candelori; Dalla Betta, Gian Franco; A., Litovchenko; C., Piemonte; R., Rando; F., Ravotti; N., Zorzi. - ELETTRONICO. - 108/109:(2005), pp. 315-320. ((Intervento presentato al convegno 11th International Autumn Meeting Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology (GADEST 2005) tenutosi a Giens Peninsula nel 25th-30th September 2005.
| Titolo: | Bulk radiation damage induced in thin epitaxial silicon detectors by 24 GeV protons | |
| Autori: | V., Khomenkov; D., Bisello; M., Boscardin; M., Bruzzi; A., Candelori; Dalla Betta, Gian Franco; A., Litovchenko; C., Piemonte; R., Rando; F., Ravotti; N., Zorzi | |
| Autori Unitn: | ||
| Titolo del volume contenente il saggio: | Gettering and defect engineering in semiconductor technology XI: GADEST 2005; proceedings of the 11th international autumn meeting | |
| Luogo di edizione: | Enfield, NH | |
| Casa editrice: | Trans Tech Publications Ltd | |
| Anno di pubblicazione: | 2005 | |
| ISBN: | 9783908451136 | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11572/28267 | |
| Appare nelle tipologie: | 04.1 Saggio in atti di convegno (Paper in Proceedings) |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione
Copyright © 2022