IRIS

A 4-point device for in situ measurement of elastic properties of polycristalline materials by X-ray diffraction

Scardi, Paolo;Fontanari, Vigilio
2000-01-01
2000
Proceedings of the 6th International conference on residual stresses
IOM communications
Scardi, Paolo; Y., Dong; S., Setti; Fontanari, Vigilio
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