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EnglishA 4-point device for in situ measurement of elastic properties of polycristalline materials by X-ray diffraction / P. Scardi ; Y. Dong ; S. Setti ; V. Fontanari. - 1(2000), pp. 67-73. ((Intervento presentato al convegno 6th Int. Conference on Residual stresses - ICR6 tenutosi a Oxford (UK) nel 10-12 July 2000.
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| Titolo: | A 4-point device for in situ measurement of elastic properties of polycristalline materials by X-ray diffraction |
| Autori Unitn: | |
| Anno di pubblicazione: | 2000 |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11572/26771 |
| Appare nelle tipologie: | 04.1 Saggio in atti di convegno (Paper in proceedings) |
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