A 4-point device for in situ measurement of elastic properties of polycristalline materials by X-ray diffraction / Scardi, Paolo; Y., Dong; S., Setti; Fontanari, Vigilio. - 1:(2000), pp. 67-73. ((Intervento presentato al convegno 6th Int. Conference on Residual stresses - ICR6 tenutosi a Oxford (UK) nel 10-12 July 2000.
Scheda prodotto non validato
I dati visualizzati non sono stati ancora sottoposti a validazione formale da parte dello Staff di IRIS, ma sono stati ugualmente trasmessi al Sito Docente Cineca (Loginmiur).
Titolo: | A 4-point device for in situ measurement of elastic properties of polycristalline materials by X-ray diffraction | |
Autori: | Scardi, Paolo; Y., Dong; S., Setti; Fontanari, Vigilio | |
Autori Unitn: | ||
Titolo del volume contenente il saggio: | Proceedings of the 6th International conference on residual stresses | |
Casa editrice: | IOM communications | |
Anno di pubblicazione: | 2000 | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11572/26771 | |
Appare nelle tipologie: | 04.1 Saggio in atti di convegno (Paper in proceedings) |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione