Revised analysis of negative capacitance in ferroelectric-insulator capacitors: analytical and numerical results, physical insight, comparison to experiments / Rollo, Tommaso; Blanchini, Franco; Giordano, Giulia; Specogna, Ruben; Esseni, David. - (2019). (Intervento presentato al convegno IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) tenutosi a San Francisco (CA), USA nel December 2019).

Revised analysis of negative capacitance in ferroelectric-insulator capacitors: analytical and numerical results, physical insight, comparison to experiments

Giordano, Giulia;Specogna, Ruben;
2019-01-01

2019
Proceedings of the 65th IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)
-
IEEE
9781728140339
Rollo, Tommaso; Blanchini, Franco; Giordano, Giulia; Specogna, Ruben; Esseni, David
Revised analysis of negative capacitance in ferroelectric-insulator capacitors: analytical and numerical results, physical insight, comparison to experiments / Rollo, Tommaso; Blanchini, Franco; Giordano, Giulia; Specogna, Ruben; Esseni, David. - (2019). (Intervento presentato al convegno IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) tenutosi a San Francisco (CA), USA nel December 2019).
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