Revised analysis of negative capacitance in ferroelectric-insulator capacitors: analytical and numerical results, physical insight, comparison to experiments / Rollo, Tommaso; Blanchini, Franco; Giordano, Giulia; Specogna, Ruben; Esseni, David. - (2019). (Intervento presentato al convegno IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) tenutosi a San Francisco (CA), USA nel December 2019).
Revised analysis of negative capacitance in ferroelectric-insulator capacitors: analytical and numerical results, physical insight, comparison to experiments
Giordano, Giulia;Specogna, Ruben;
2019-01-01
File in questo prodotto:
| File | Dimensione | Formato | |
|---|---|---|---|
|
031_2019IEDM_RBGSE.pdf
Solo gestori archivio
Descrizione: Paper
Tipologia:
Versione editoriale (Publisher’s layout)
Licenza:
Tutti i diritti riservati (All rights reserved)
Dimensione
1.21 MB
Formato
Adobe PDF
|
1.21 MB | Adobe PDF | Visualizza/Apri |
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione
