IRIS

A Three-Dimensional Gated Diode Structure for Surface Parameter Characterization in a 3D Sensor Technology / Sultan, D.M.S., Mendicino, R., Boscardin, M., Ronchin, S., Zorzi, N., Betta, G.D.. - ELETTRONICO. - (2017), pp. 1-4. (2017 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference, NSS/MIC 2017 Atlanta, USA 2017) [10.1109/NSSMIC.2017.8532731].

A Three-Dimensional Gated Diode Structure for Surface Parameter Characterization in a 3D Sensor Technology

Sultan, D. M. S.;Mendicino, Roberto;Boscardin, Maurizio;Ronchin, Sabina;Betta, Gian-Franco Dalla
2017-01-01
2017
2017 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference, NSS/MIC 2017 - Conference Proceedings
Piscataway, NJ
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
9781538622827
2-s2.0-85058494266
WOS:000455836200141
Sultan, D. M. S.; Mendicino, Roberto; Boscardin, Maurizio; Ronchin, Sabina; Zorzi, Nicola; Betta, Gian-Franco Dalla
A Three-Dimensional Gated Diode Structure for Surface Parameter Characterization in a 3D Sensor Technology / Sultan, D.M.S., Mendicino, R., Boscardin, M., Ronchin, S., Zorzi, N., Betta, G.D.. - ELETTRONICO. - (2017), pp. 1-4. (2017 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference, NSS/MIC 2017 Atlanta, USA 2017) [10.1109/NSSMIC.2017.8532731].
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11572/230539
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 0
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 0
  • OpenAlex ND
social impact