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A Three-Dimensional Gated Diode Structure for Surface Parameter Characterization in a 3D Sensor Technology / Sultan, D. M. S.; Mendicino, Roberto; Boscardin, Maurizio; Ronchin, Sabina; Zorzi, Nicola; Betta, Gian-Franco Dalla. - ELETTRONICO. - (2017), pp. 1-4. (Intervento presentato al convegno 2017 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference, NSS/MIC 2017 tenutosi a Atlanta, USA nel 2017) [10.1109/NSSMIC.2017.8532731].

A Three-Dimensional Gated Diode Structure for Surface Parameter Characterization in a 3D Sensor Technology

Sultan, D. M. S.;Mendicino, Roberto;Boscardin, Maurizio;Ronchin, Sabina;Betta, Gian-Franco Dalla
2017-01-01
2017
2017 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference, NSS/MIC 2017 - Conference Proceedings
Piscataway, NJ
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
9781538622827
2-s2.0-85058494266
WOS:000455836200141
Sultan, D. M. S.; Mendicino, Roberto; Boscardin, Maurizio; Ronchin, Sabina; Zorzi, Nicola; Betta, Gian-Franco Dalla
A Three-Dimensional Gated Diode Structure for Surface Parameter Characterization in a 3D Sensor Technology / Sultan, D. M. S.; Mendicino, Roberto; Boscardin, Maurizio; Ronchin, Sabina; Zorzi, Nicola; Betta, Gian-Franco Dalla. - ELETTRONICO. - (2017), pp. 1-4. (Intervento presentato al convegno 2017 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference, NSS/MIC 2017 tenutosi a Atlanta, USA nel 2017) [10.1109/NSSMIC.2017.8532731].
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