Numerical Simulation of Charge Multiplication in Ultra-Fast Silicon Detectors (UFSD) and Comparison with Experimental Data / Mandurrino, M.; Cartiglia, N.; Staiano, A.; Arcidiacono, R.; Obertino, M. M.; Ferrero, M.; Cenna, F.; Sola, V.; Boscardin, M.; Patetnoster, G.; Ficorella, F.; Pancheri, L.; Dalla Betta, G. F.. - ELETTRONICO. - (2017), pp. 1-4. (Intervento presentato al convegno 2017 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference, NSS/MIC 2017 tenutosi a Atlanta, USA nel 2017) [10.1109/NSSMIC.2017.8532702].
Numerical Simulation of Charge Multiplication in Ultra-Fast Silicon Detectors (UFSD) and Comparison with Experimental Data
Boscardin, M.;Ficorella, F.;Pancheri, L.;Dalla Betta, G. F.
2017-01-01
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