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Radiation damage effects on p-type silicon detectors for high-luminosity operations: Test and modeling / Moscatelli, F., Passeri, D., Morozzi, A., Mattiazzo, S., Betta, G.-F.D., Dragicevic, M., Bilei, G.M.. - ELETTRONICO. - 2016-:(2017), pp. 1-4. (16th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, RADECS 2016 Brema, Germania 2016) [10.1109/RADECS.2016.8093111].

Radiation damage effects on p-type silicon detectors for high-luminosity operations: Test and modeling

Betta, G. -F. Dalla;
2017-01-01
2017
Proceedings of the European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems, RADECS
Piscataway, NJ
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
9781509043668
2-s2.0-85043599623
WOS:000450759400015
Moscatelli, F.; Passeri, D.; Morozzi, A.; Mattiazzo, S.; Betta, G. -F. Dalla; Dragicevic, M.; Bilei, G. M.
Radiation damage effects on p-type silicon detectors for high-luminosity operations: Test and modeling / Moscatelli, F., Passeri, D., Morozzi, A., Mattiazzo, S., Betta, G.-F.D., Dragicevic, M., Bilei, G.M.. - ELETTRONICO. - 2016-:(2017), pp. 1-4. (16th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, RADECS 2016 Brema, Germania 2016) [10.1109/RADECS.2016.8093111].
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