Measurements and TCAD simulations of bulk and surface radiation damage effects in silicon detectors / Moscatelli, F.; Maccagnani, P.; Passeri, D.; Bilei, G. M.; Servoli, L.; Morozzi, A.; Dalla Betta, G. -F.; Mendicino, R.; Boscardin, M.; Zorzi, N.. - ELETTRONICO. - (2015), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 2015 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference, NSS/MIC 2015 tenutosi a usa nel 2015) [10.1109/NSSMIC.2015.7581944].
Measurements and TCAD simulations of bulk and surface radiation damage effects in silicon detectors
Dalla Betta, G. -F.;Mendicino, R.;Boscardin, M.;
2015-01-01
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