IRIS

Image quality and spectroscopic characteristics of different silicon pixel imaging systems

Dalla Betta, Gian Franco;
2004-01-01
2004
Proceedings of the 2004 IEEE Workshop on Room Temperature Semiconductor Detectors (RTSD04)
Piscataway, NJ
IEEE
M., Bisogni; D., Bulajic; M., Boscardin; Dalla Betta, Gian Franco; P., Delogu; E., Fantacci; M., Novelli; C., Piemonte; M., Quattrocchi; V., Rosso; A....espandi
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