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Development of nano-topography during SIMS characterization of Ge1-xSnx alloy / Secchi, Maria; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Bersani, Massimo. - STAMPA. - (2014). (Intervento presentato al convegno IBMM 2014 tenutosi a Leuven, Belgium nel 14-19 Sept 2014).

Development of nano-topography during SIMS characterization of Ge1-xSnx alloy

Secchi Maria;Demenev Evgeny;
2014-01-01
2014
19th International Conference on Ion Beam Modifications of Materials
Development of nano-topography during SIMS characterization of Ge1-xSnx alloy / Secchi, Maria; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Bersani, Massimo. - STAMPA. - (2014). (Intervento presentato al convegno IBMM 2014 tenutosi a Leuven, Belgium nel 14-19 Sept 2014).
Secchi, Maria; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Bersani, Massimo
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