Towards black box testing of android apps

Philippov, Anton;Crispo, Bruno;Massacci, Fabio
2015-01-01

2015
Proceedings - 10th International Conference on Availability, Reliability and Security, ARES 2015
New York
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
9781467365901
Zhauniarovich, Yury; Philippov, Anton; Gadyatskaya, Olga; Crispo, Bruno; Massacci, Fabio
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