MOS junction based nanostructures by thermal oxidation of silicon wires for hydrogen detection

Soncini, Giovanni
2003-01-01

2003
IEEE-NANO2003: 3rd Int. Conf. on Nanotechnologies, San Francisco, USA
A., Tibuzzi; B., Margesin; M., Decarli; C., DI NATALE; M., Zen; A., D'Amico; Soncini, Giovanni
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11572/15264
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact