Analytical approach of the impact of Through Silicon Via on the performance of MOS devices

Benkechkache, Mohamed El Amine; Latreche, Saida; Dalla Betta, Gian Franco

Analytical approach of the impact of Through Silicon Via on the performance of MOS devices

Benkechkache, Mohamed El Amine;Latreche, Saida;Dalla Betta, Gian Franco

2014-01-01

Scheda breve

Scheda completa

Scheda completa (DC)

	Anno di pubblicazione (Date of publication)
	
				2014
			
	Titolo del volume (Proceedings title)
	
				Proceedings of 9th International Design and Test Symposium
			
	Luogo di edizione (Place of publication)
	
				Piscataway, NJ, USA
			
	Casa editrice (Publisher)
	
				IEEE
			
	ISBN
	
				978-1-4799-8200-4
			
	Tutti gli autori
	
						Benkechkache, Mohamed El Amine; Latreche, Saida; Dalla Betta, Gian Franco
					
	Appare nelle tipologie:
	
				04.1 Saggio in atti di convegno (Paper in Proceedings)