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Titolo Anno di pubblicazione Autori Unitn File
Water Uptake in an Anion Exchange Membrane Based on Polyamine: A First-Principles Study 1-gen-2022 Tomasino, EleonoraMukherjee, BinayakAtaollahi, NargesScardi, Paolo
Whole diffraction pattern-fitting of polycrystalline fcc materials based on microstructure 1-gen-2000 Scardi, PaoloLeoni, Matteo +
Whole Powder Pattern Modelling 1-gen-2000 Scardi, PaoloLeoni, Matteo +
Whole powder pattern modelling 1-gen-2002 Scardi, PaoloLeoni, Matteo
Whole Powder Pattern Modelling for the study of Anti-Phase Domains 1-gen-2002 Scardi, PaoloLeoni, Matteo
Whole powder pattern modelling macros for TOPAS 1-gen-2018 Scardi, PaoloAzanza Ricardo, Cristy L.Perez-Demydenko, Camilo +
Whole Powder Pattern Modelling of cubic metal powders deformed by high energy milling 1-gen-2007 Scardi, PaoloLeoni, MatteoD'Incau, Mirco
X-ray analysis of texture domains in nonhomogeneous thin films deposited by physical vapour deposition 1-gen-2004 Scardi, PaoloLeoni, MatteoD'Incau, Mirco
X-ray Diffraction Line broadening effects in MBa2Cu3O7-d (M=Y, Gd) thin films 1-gen-1997 Scardi, Paolo +
X-ray diffraction methodology for the microstructural analysis of nanocrystalline powders: application to cerium oxide 1-gen-2004 Leoni, MatteoDi Maggio, RosaScardi, Paolo +
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Tipologia
  • 03 Contributo in periodico (Part ... 343
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Autore
  • Leoni, Matteo 108
  • Ataollahi, Narges 41
  • D'Incau, Mirco 34
  • Azanza Ricardo, Cristy Leonor 27
  • Di Maggio, Rosa 25
  • Isotta, Eleonora 18
  • Leonardi, Alberto 15
  • Pugno, Nicola 15
  • Gelisio, Luca 14
  • Lutterotti, Luca 14
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2026 68
  • 2010 - 2019 111
  • 2000 - 2009 75
  • 1990 - 1999 83
  • 1985 - 1989 6
Rivista
  • JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY 22
  • POWDER DIFFRACTION 16
  • THIN SOLID FILMS 16
  • ZEITSCHRIFT FUR KRISTALLOGRAPHIE 15
  • SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY 12
  • METALLURGICAL AND MATERIALS TRANS... 7
  • NANOMATERIALS 7
  • JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH 6
  • JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE 6
  • MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING... 6
Settore disciplinare
  • Settore ING-IND/22 - Scienza e Te... 2
Keyword
  • X-ray diffraction 37
  • Condensed Matter Physics 15
  • Materials Science (all) 13
  • line profile analysis 10
  • Whole Powder Pattern Modelling 10
  • powder diffraction 8
  • Cuprite 7
  • High Energy Ball Milling 7
  • thin films 7
  • Biochemistry 6
Lingua
  • eng 327
  • ita 7
  • spa 1
Accesso al fulltext
  • no fulltext 206
  • reserved 67
  • open 62
  • partially open 8