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3D-FBK pixel sensors:Recent beam tests results with irradiated devices
A. Micelli;K. Helle;H. Sandaker;B. Stugu;M. Barbero;F. Huegging;M. Karagounis;V. Kostyukhin;H. Krueger;J. W. Tsung;N. Wermes;M. Capua;S. Fazio;A. Mastroberardino;G. Susinno;C. Gallrapp;B. Di Girolamo;D. Dobos;A. La Rosa;H. Pernegger;S. Roe;T. Slavicek;S. Pospisil;K. Jakobs;M. Koehler;U. Parzefall;G. Darbo;G. Gariano;C. Gemme;A. Rovani;E. Ruscino;C. Butter;R. Bates;V. Oshea;S. Parker;M. Cavalli Sforza;S. Grinstein;I. Korokolov;C. Pradilla;K. Einsweiler;M. Garcia Sciveres;M. Borri;C. Da Via;J. Freestone;S. Kolya;C. H. Lai;C. Nellist;J. Pater;R. Thompson;S. J. Watts;M. Hoeferkamp;S. Seidel;E. Bolle;H. Gjersdal;K. N. Sjoebaek;S. Stapnes;O. Rohne;D. Suo;C. Young;P. Hansson;P. Grenier;J. Hasi;C. Kenney;M. Kocian;P. Jackson;D. Silverstein;H. Davetak;B. DeWilde;D. Tsybychev;Dalla Betta, Gian Franco;Gabos, Paolo;Povoli, Marco;M. Cobal;M. P. Giordani;L. Selmi;A. Cristofoli;D. Esseni;P. Palestri;C. Fleta;M. Lozano;G. Pellegrini;BOSCARDIN, MAURIZIO;A. Bagolini;C. Piemonte;Ronchin, Sabina;N. Zorzi;T. E. Hansen;T. Hansen;A. Kok;N. Lietaer;J. Kalliopuska;A. Oja
A., Micelli; K., Helle; H., Sandaker; B., Stugu; M., Barbero; F., Huegging; M., Karagounis; V., Kostyukhin; H., Krueger; J. W., Tsung; N., Wermes; M., Capua; S., Fazio; A., Mastroberardino; G., Susinno; C., Gallrapp; B., Di Girolamo; D., Dobos; A., La Rosa; H., Pernegger; S., Roe; T., Slavicek; S., Pospisil; K., Jakobs; M., Koehler; U., Parzefall; G., Darbo; G., Gariano; C., Gemme; A., Rovani; E., Ruscino; C., Butter; R., Bates; V., Oshea; S., Parker; M., Cavalli Sforza; S., Grinstein; I., Korokolov; C., Pradilla; K., Einsweiler; M., Garcia Sciveres; M., Borri; C., Da Via; J., Freestone; S., Kolya; C. H., Lai; C., Nellist; J., Pater; R., Thompson; S. J., Watts; M., Hoeferkamp; S., Seidel; E., Bolle; H., Gjersdal; K. N., Sjoebaek; S., Stapnes; O., Rohne; D., Suo; C., Young; P., Hansson; P., Grenier; J., Hasi; C., Kenney; M., Kocian; P., Jackson; D., Silverstein; H., Davetak; B., Dewilde; D., Tsybychev; Dalla Betta, Gian Franco; Gabos, Paolo; Povoli, Marco; M., Cobal; M. P., Giordani; L., Selmi; A., Cristofoli; D., Esseni; P., Palestri; C., Fleta; M., Lozano; G., Pellegrini; Boscardin, Maurizio; A., Bagolini; C., Piemonte; Ronchin, Sabina; N., Zorzi; T. E., Hansen; T., Hansen; A., Kok; N., Lietaer; J., Kalliopuska; A., Oja
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simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.
