Bulk radiation damage induced in thin epitaxial silicon detectors by 24 GeV protons

Dalla Betta, Gian Franco;
2005-01-01

2005
Gettering and defect engineering in semiconductor technology XI: GADEST 2005; proceedings of the 11th international autumn meeting
Enfield, NH
Trans Tech Publications Ltd
9783908451136
V., Khomenkov; D., Bisello; M., Boscardin; M., Bruzzi; A., Candelori; Dalla Betta, Gian Franco; A., Litovchenko; C., Piemonte; R., Rando; F., Ravotti; N., Zorzi
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