IRIS

Experimental and theoretical joint study on the electronic and structural properties of silicon nanocrystals embedded in SiO2: active of the interface region

Dalba, Giuseppe;Pavesi, Lorenzo;
2002-01-01
2002
N., Daldosso; M., Luppi; Dalba, Giuseppe; Pavesi, Lorenzo; F., Rocca; F., Priolo; G., Franzo'; F., Iacona; E., Degoli; R., Magri; S., Ossicini
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11572/27799
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact